CX1V SOCIÉTÉ KELGE DE M1CROSCOPIE. 



M. L. Bauwens, après avoir rappelé que la question 

 de l'étalon micrométrique se trouve à l'ordre du jour 

 chez les micrographes américains depuis le Congrès 

 d'Indianopolis, expose quelques considérations sur ce 

 sujet. 



Il rappelle sommairement les moyens employés par 

 les anciens micrographes pour mesurer les dimensions 

 des objets ainsi que l'amplification des lentilles. 



M. Bauwens montre l'arbitraire des unités successi- 

 vement proposées. Quelques-unes de celles-ci sont des 

 plus singulières ; la plupart d'entre elles cependant se 

 basent sur la subdivision de la mesure de longueur 

 adoptée dans les divers pays. 



Les tableaux donnés par les auteurs, pour la compa- 

 raison des unités micrométriques ainsi que pour la réduc- 

 tion des diverses mesures, montrent, non-seulement les 

 variations nombreuses de la ligne — l'unité de mesure 

 la plus usitée, quoique différente suivant les pays — 

 mais aussi le peu de concordance des calculs qui ont 

 été établis pour la comparaison des mesures. 



M. Bauwens espère que l'adoption définitive par les 

 micrographes de tous pays, des divisions décimales et 

 d'une unité micrométrique uniforme : le centième ou le 

 millième de millimètre, mettra fin au déplorable état de 

 choses qu'il vient de dépeindre. 



Il voudrait que, dans le but de contribuer à cet utile 

 progrès, la Société prenne l'initiative d'une adresse en 

 pétition à présenter aux micrographes américains, qui 

 doivent discuter la question au prochain Congrès de 

 Bufïalo. 



M. Bauwens se propose d'ailleurs de revenir sur cette 

 question, qu'il a étudiée depuis longtemps et sur 



