Zeitschrift für wiss. Mikroskopie Bd. XXVI. 



Taf. V. 



Veränderung der Beugungsscheiben 

 durch Diaphragmierung der hinteren Brennebene. 



zu dünn 



Deckglas 



richtige Dicke 



zu dick 



Einstellung 

 zu hoch 



richtig 



zu tief 



Kriterium für Deckglaskorrektion bei Dunkelfeldbeleuchtung. 



H. Siedentopf, Über ultramikroskopische Abbildung. 



Verlag von S. Hirzel in Leipzig. 



Druck von Fischer & Wittig in Leipzig. 



