39, y. Köhler: Optische Einrichtung des Projektionsmikroskops. 227 



sphärische Unterkorrektion geringer. Wir wollen annehmen, sie reiche 

 nun nicht mehr aus, um die Überkorrektion in S^ aufzuheben : dann 

 muß also das ganze System noch Über korrektion aufweisen. Es muß 

 aber eine Lage des Objektpunktes zwischen den beiden in a und b 

 dargestellten, und eine konjugierte Lage des Bildpunktes 0* geben, 

 wo die Randstrahlen S^ an derjenigen Stelle durchlaufen, wo die 

 entstehende Unterkorrektion gerade durch die Überkorrektion in 8<, 

 aufgehoben wird. Das kann aber nur eine Stelle, also nur eine 

 Lage von sein, wo diese vollkommene Korrektion herrscht. Durch 

 sie sind die „aplanatischen" Punkte im Objekt- und Bildraume des 



1. 



Systems gekennzeichnet. Mit der Entfernung des Objekts von ihnen 

 wächst bei einem und demselben System die sphärische Aberration sehr 

 rasch an, um so mehr, je größer dessen Apertur ist. Verhalten 

 sich bei zwei Systemen, aus gleichen Gläsern, die Radien, Dicken, 

 Abstände und Linsenöflfnungen wie m : n, d. h. haben die beiden 

 Systeme gleiche Apertur und gleiche Bauart, aber verschiedene Brenn- 

 weiten, die sich wie m : n verhalten, so muß der Betrag der sphärischen 

 Abweichung in Winkelmaß gemessen — d. h. also derjenige Winkel, 

 welchen der mit Aberration behaftete Strahl mit der richtigen Rich- 

 tung bildet, bei der die Aberration gehoben wäre — bei beiden 

 Systemen gleich sein, wenn sich die Abstände der Objektpunkte von 

 den aplanatischen Punkten im Objektraum ebenfalls wie m : n ver- 



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