462 Grebhardt: Aus optischen und mechanischen Werkstätten IL XXV, 4. 



der BiuNELL sehen Methode bestimmt (Messungen der Größe und 

 Tiefe des Eindrucks , den eine ihrer Oberfläche eingepreßte Stahl- 

 kugel hinterläßt), ermöglicht die Messung auf drei verschiedene Weisen: 

 Kleinere Objekte werden erstens dem von einer Ebonitplatte ge- 

 bildeten Tisch einfach aufgelegt. Ist das Werkstück , an dem die 

 Messung vorgenommen werden soll , dagegen groß genug und an- 

 nähernd eben, so kann man zweitens das Mikroskop selbst darauf 

 setzen und nach Entfernung der Tischplatte mit Zahn und Trieb auf 

 die Werkstückoberfläche einstellen. Endlich ist das ganze Mikroskop- 

 oberteil nur mit Hilfe eines kräftigen horizontalen Zapfens in dem 

 Unterbaue des Mikroskopes befestigt, der in eine starke, geschlitzte 

 und festklemmbare Hülse endigt. Dadurch kann man also drittens 

 mit einem Handgriff das Oberteil des Mikroskopes herausziehen, und 

 nunmehr mittels seines Zapfens an irgendeinem Laboratoriumsstativ 

 in jeder gewünschten Weise vor, neben oder über einem Werkstück 

 befestigen. — Das Modell B soll besonders zum Messen zweier 

 in der Objektebene aufeinander senkrechter Strecken dienen , was 

 dann wichtig wird, wenn wegen unebener Objektoberfläche der Stahl- 

 kugeleindruck kein regelmäßig kreisförmiger war. Dazu ist hier 

 bei gleichem Oberteil ein anderer Unterbau angeordnet. Der eben- 

 falls hufeisenförmige Fuß ist kräftiger gehalten und trägt einen ein- 

 fachen drehbaren Objekttisch, der am Rande zwei um 90 '^ versetzte 

 Nuten hat, in die eine Feder einschnappt. Nach Messung der ersten 

 Strecke wird der Objekttisch um 90^ gedreht, dann folgt die zweite 

 Messung. Der Tisch kann in seiner Mitte Vertiefungen oder auf- 

 setzbare Ringe erhalten, die der Form der vorwiegend zu messenden 

 Objekte (z. B. Stahlkugeln), angepaßt werden. Mit einem Handgriff 

 kann man den Objekttisch aus den innen zu einer Schlittenführung 

 ausgebildeten Armen des Unterbaues herausziehen , um das ganze 

 Mikroskop genau wie das Modell A auf große Gußstücke aufzusetzen. 

 Das oben bereits erwähnte Modell C (Fig. 6) weist besondere 

 Einrichtungen für die Ausmessung von Photographien physikalischer 

 Erscheinungen auf, für die es in erster Linie bestimmt ist, z. B. von 

 Spektren, Interferenzfiguren u. dgl. Der quadratische feste Mikro- 

 skoptisch ist an der rechten und linken Seitenfläche so bearbeitet, 

 daß diese einem metallenen auf der Tischfläche gleitenden Rahmen 

 als Führung dienen können. Auf dem Rahmen wird die zu messende 

 Platte durch zwei Federn festgehalten, nachdem sie an eine gleich- 

 zeitig als Anlage dienende Millimeterteilung angeschoben ist. Der 

 Rahmen kann auf diese Weise senkrecht zur Schiitteuführung des 



