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ihrem geologischen Auftreten und ihrer Structur; sie sind hiernach 

 sehr übersichtlich gruppirt, 1) in solche, deren Kieselsäuregehalt 

 grösser als im Mittel 50 Procent, 2) in solche, deren Kieselsäure- 

 gehalt geringer als in Mittel 50 Procent ist und 3) in gangförmige 

 Spaltungsprodukte der Tiefengesteine; bei den letzteren wird be- 

 sonders angegeben, zu welcher Gruppe von Tiefengesteinen sie ge- 

 hören. Die seeundären Gesteine werden gegliedert in mechanische 

 Sedimente , chemisch-physikalische Sedimente , organogene Sedimente 

 und die zugehörigen Mineralien vorher aufgeführt. Die krystalli- 

 nischen Schiefergesteine sind aus den primären und seeun- 

 dären Gesteinen entstanden durch Metamorphose (Einwirkung von 

 Druck und Wärme bei Gegenwart von Wasser und ohne wesentliche 

 Zufuhr von Stoff) ; die für sie charakteristischen Mineralien werden 

 genannt und die Gesteine auf der ersten Tabelle (No. 7) nach ihrem 

 Mineralbestand gruppirt; auf der anderen Tabelle (No. 8) wird eine 

 dreifache Classification gegeben, einmal nach den wesentlichen farbigen 

 Gemengtheilen, dann nach charakteristischen unwesentlichen Gemeng- 

 theilen, drittens nach der Structur. Durch 12 Abbildungen nach 

 Photographien werden die wichtigsten Structurarten veranschaulicht. 

 Diese Tabellen sind zweifellos sehr übersichtlich und berücksichtigen 

 in vollem Maasse die Resultate der neuesten Forschungen. Wenn in 

 einzelnen Fällen eine einfache aber vielleicht nicht richtige Formel 

 einer complicirten nicht absolut sicher gestellten vorgezogen wird, 

 wie z. B. bei Nephelin NaAlSi0 4 , so kann Ref. dies nur billigen. 

 Es ist den Tabellen in den Kreisen, für die sie bestimmt sind, 

 und auch bei den Petrographen , eine recht grosse Verbreitung zu 

 wünschen. R. Brauns. 



Klein, C, Optische Studien IL (Sitzber. d. Kgl. Preuss. Acad. 

 d. Wiss. Berlin 1902, No. 7, p. 104). * 

 3) Vervollkommnung der Einrichtungen des Total- 

 r e flectometers. Es wird zunächst ein Vergleich angestellt zwi- 

 schen dem Totalreflectometer nach Abbe - Czapski - Klein 2 und dem 

 nach Kohlrausch -Liebisch- Wallerant, * beide in ihrer Anwendung 

 zur Bestimmung der Brechungsverhältnisse von Krystallen in Dünn- 

 schliffen ; es wird festgestellt , dass in allen Fällen dem Refracto- 



J ) Optische Studien I, 1 und 2 vgl. diese Zeitschr. Bd. XVI, 1899, p. 125. 

 -) Vgl. diese Zeitschr. Bd. XV, 1898, p. 523. 

 ; ) Vgl. diese Zeitschr. Bd. XV, 1898, p. 399. 



