Lennander 

 #5866 



Lenz 

 #5892 



Etude des textures ecrouies de laminage 

 par examen de lames minces au microscope 

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Lennander, S. 5866 



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Lenz, Friedrich 5867 



Zur Berechnung von rotationssymmetrischen 

 Potentialfeldern in Elektronenlinsen. Ann. 

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Lenz, Friedrich 5868 



Kann Man in der Elektronenoptik eine Reine 

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 on Electron Micros., London, - T954. Proc. :86- 

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Lenz, Friedrich 5869 



Die Kaustikf lache bei Dreizahliger Unsym- 

 metrie. In 3rd Int. Conf. on Electron Micros., 

 London, 19~5"4. Proc. :83-5. London, Roy. 

 Microscop. Soc, 1956. 



Lenz, Friedrich 5870 



Ein mathematisches Modellfeld ftlr eine 

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Lenz, Friedrich 5871 



The geometry of distorted shadow projections 

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Lenz, Friedrich 5873 



Zur Berechnung von rotationssymmetrischen 

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 Regional Conf. on Electron Micros., Asia and 

 Oceania, 1956. Proc. :99-104. Tokyo, Elec- 

 trotech. Lab., 1957. 



Lenz, F. 5874 



Berechnung der Orts-und Winkelverteilung des 

 Teilchenstroms bei Vielfachstreuung. Z. angew. 

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Lenz, F. 5875 



Stigmatische Abbildung in nicht rotationssym- 

 metrischen Elektronenlinsen. Optik. 15:393-7. 

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Lenz , F . 



Die Bildfehler im elektronenoptischen 

 Beugungsbild. Optik. 16:457-60. 1959. 



5876 



Lenz, Friedrich 5877 



Bildentstehung und Bildkontrast . In 4th Int. 

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Lenz, Friedrich 5878 



Der Boersch-Effekt und ein Ansatz zu seiner 

 theoretischen Deutung. In^ 4th Int. Conf. on 

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 Berlin, Springer-Verlag, 1960. 



Lenz, Friedrich 5879 



Elektronenvielfachstreuung in photographi- 

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 Berlin, Springer-Verlag, 1960. 



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Lenz, F. 5881 



Massstab und Auf losungsvermogen in Elek- 

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Lenz, F. & E. Krimmel 5882 



Die allgemeine Intensitatsverteilung in der 

 kohHrent ausgeleuchteten Umgebung einer Kaustik- 

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Lenz, F. & H. Mecking 5883 



The caustic surface in electron optical sys- 

 tems of fourfold axial symmetry. In European 

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 Proc. 1:41-3. Delft, De Nederlandse Vereniging 

 voor Electronenmicroscopie, 1961. 



Lenz, F. & W. Rasche 5884 



An improved search coil for measuring mag- 

 netic lens fields. In^ European Regional Conf. 

 on Electron Micros., Delft, 1960. Proc. 1:33-4. 

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Lanz, F. & W. Scheffels 5885 



tfber die Veranderung des StreuvermOgens elek- 

 tronenmikroskopischer Objekte unter Elektronen- 

 beschuss. Z. Naturforsch. lla(8) :656-62. 1956. 



Lenz, F. & W. Scheffels 5886 



Das Zusammenwirken von Phasen-und Amplituden- 

 kontrast in der elektronenmikroskopischen Ab- 

 bildung. Z. Naturforsch. 13a(3) :226-30. 1958.- 



Lenz, Hans 5887 



Elektronenmikroskopische Untersuchungen am 

 normalen Schmelz. Deut . zahnartztl. Z. 11: 

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Lenz, Hans 5888 



Elektronenmikroskopische Untersuchungen bei 

 beginnender Schmelzkaries. Zahnarztl. Rund- 

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Lenz , Hans 5889 



Elektronenmikroskopische Untersuchungen an 

 der Ameloblastenschicht . Deut. zahnarztl. Z. 

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Lenz, Hans 5890 



Electron microscopic studies on the organic 

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Lenz, Hans 5891 



Elektronenmikroskopische Untersuchungen der 

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Lenz, Hans 5892 



Bestehen zwischen Schmelz und Dentin prae- 

 formierte Bahnen? Elektronenmikroskopische 

 Untersuchungen. Deut. zahnarztl. Z. 14(3): 

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