CONTENTS 



Preface 



F. S. Sjostrand 



Zum Gedenken an Bodo v. Borries 



E. RUSKA 



Commemorative address in honour of Bodo v. Bor- 

 ries 



V. E. COSSLETT 



I. INSTRUMENTATION 



Observation directe des surfaces metalliques par re- 

 flexion (Invited paper). 

 Ch. Pert 



Objekticiihlung im Elektronenmikroskop. 



O. SCHOTT UND S. LeISEGANG 



Richtstrahlwerte der kalten Kathode. 

 L. Wegmann UND M. Gribi 



1 II. ELECTRON OPTICS 



tJber asymptotische Bildfchlcr. 

 ■X P. Lenz 



48 



Zur Errechnung elektronenoptischer Peldvertei- 

 lungen mit geforderten Abbildungscigenschaftcn. 52 

 5 K.W. J. PicuT 



Lentilles cicctroniques magnetiques. Regies de leur 

 construction et expressions uni\crscllcs de leurs 

 caractcristiques electro-optiqucs. 55 



P. DURANDEAU 



8 III. ELECTRON-SPECIMEN INTERACTION 



A Scanning Microscope with either Electron or X- 

 Ray Recording. J 2 



V. E. CoSSLETT AND P. DUNCUMB 



Imaging Elements Operating with Permanent Mag- 

 nets. 14 

 B. V. Borries, G. Langner and W. Scheffels 



LJber magnetostatische Linsenanordnungen mit me- 

 chanischen Regelgliedern. 17 



K. MULLER. 



Der EinfluB der Bestrahlungsbedingungen auf die 

 Objektverschmutzung. 20 



S. Leisegang und O. Schott 



27 



ijber ein Elektronenmikroskop mit universeller An- 

 wendbarkeit fiir Elektronenbeugung. 30 



H. Bethge 



A New Universal Electron Microscope of High 

 Resolving Power: Metro-Vick Type EM6. 32 



M. E. Haine and R. S. Page 



Uber ein neues elektrostatisches Gebrauchs-Elek- 

 tronenmikroskop. 34 



H. Mahl, H. Volkmann und W. Weitsch 



Bolzenkathode als Objekt im Elektronenemissions- 

 mikroskop. 37 



E. B. Bas 



41 



Summary of the Proceedings of a Symposium on 

 X-Ray Microscopy and Microradiography, Cam- 

 bridge University, England, August 16-21, 1956. 42 

 W. C. Nixon 



Uber die Entstehung des Kontrastes im elektronen- 

 mikroskopischcn Bild (Invited paper). 60 



B. v. Borrils und p. Lenz 



The DitVerential Scattering Cross Section of Atoms 

 at Small Angles. 64 



M. E. Haine and A. W. Agar 



Experimentelle Untersuchung dor Strcuung \on 

 70-kV-Elektronen an KohlenstotTin klcinstc \\ inkcl. 67 

 G. Kempf und p. Lenz 



Experimentelle Untersuchungen zum Kontrast 

 diJnner Schichten im Elektronenmikroskop. 73 



W. Lipfert 



Zur Veriinderung des Streuvermogens eincs Fest- 

 korpers gegeniiber mittelschnellen Elektronen infolge 

 lonisation und Anregung. 76 



W. Scheffels 



Contraste de phase et contraste interchromatique. 

 Etude comparee des methodes. 78 



M. Locquin 



Der EinfluB von Temperatur. Unterlage und Be- 

 deckung auf die Vcranderungelektronenmikroskopi- 

 schcr Priiparate. 79 



K. J. Hanszen 



IV. HIGH RESOLUTION ELECTRON MICRO- 

 SCOPY AND ELECTRON DIFFRACTION 



Der Durchgang von Elektronenstrahlen durch das 

 Kristallgitter und seine Folgen fiir das elektronen- 

 mikroskopische Bild. 86 



H. NiEHRS 



The Resolution of Crystal Lattices (Invited paper). 88 

 J. W. Menter 



Elektronenmikroskopische Abbildung von Kristall- 

 gitterstrukturen. 93 



R. Neider 



