Observation directe des surfaces metallic/ues 



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Fig. 4. Austenitic steel, di-r 6^= 25°: with correcting lens, M^j Mi= 1.3. 



Nous avons obtenu d'abord ce resultat avec une 

 lentille electronique spherocylindrique. Nous utili- 

 sons maintenant un groupe quadrupolaire magne- 

 tique (fig. 1) convenablement oriente. Si / est le 

 courant d'excitation des bobines de ce systeme, le 

 rapport Mi M, devient^ : 



Ml 



Mo 



1 



1 



CO I 



sin 0, \ + coi 



(o), coefficient caracteristique du groupe quadrupo- 

 laire). 



Les figures 3 a 5 ont ete obtenue dans ces 

 conditions, pour 6, = 23° (Fig. 3), + = 25° (Fig. 4), 

 12 (Fig. 5). 



Cet artifice reste evidemment valable pour des 

 valeurs plus petites de 0.. qui prescntcnt Tavantage 

 de donner des images mieux eclairees, ou de per- 

 mettre la micro diffraction. II facilite toujours bcau- 



^ L'expression de la longueur appurcnte d'Line ombre 

 portee prend la forme : 



l=h 



sin {(Ji + Oi) 1 -.oji 



sin Oi I -co i 

 "impression de relief est augmentee. 



coup Tobservation des images ou rintcrprctation 

 des photographies. 



Description de I'appareil. — La figure I precise le 

 montage. On notera : 



Le canon a ions: Ic bombardemcnt ionique de 

 Techantillon evite sa contamination (2). 



Le diaphragme de selection qui limite la region 

 de I'objet si on veut obtenir soit le diaphragme de 

 diffraction de cettc region (0., petit), soit le spectre 

 des vitesses des electrons diffuses par cette region. 



Le groupe quadrupolaire corrccteur. 



L'ecran fluorescent incline qui assure une cor- 

 rection complementaire de la distorsion de Timage, 

 dans Tobservation visuelle. Cet ecran est relalive- 

 ment c'loii;ne de I' emulsion afin d'observer une image 

 a grandissement reduit, done plus eclairee. 



Nos efforts se poursuivent actuellement atin d'ame- 

 liorer la resolution ct reclairemcnt des images par : 



(a) Temploi d'une difference de potent iel accele- 

 ratrice plus elevee, afin d'augmenler la hnllance de 

 la source, et, peut-etre, de reduire A V/V. 



(h) i'emploi de systemes correcteurs de Taberra- 

 tion chromatique. a symetrie non axiale. 



Conclusion. — La microscopic electronique par 

 reflexion est possible pour une tres large gamme des 

 valeurs de Tangle d"observation, a resolution sensi- 



