Elektronenmikroskop niir imiverseller Anwendbarkeit fiir Elektronenbeugung 



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Abb. 1. Ansicht des Mikroskoptubus. 



Abdcckrahmen dienen zur Wahl des „Belichtungs- 

 formates" bei Anwendung des Mikroskopes als 

 Beugungsapparatur. So konnen z. B. auch IK Auf- 

 nahmen im Format 6 1 cm aufgenommen werden 

 und bei der Elektronenbeugung an Oberfliichen kann 

 zur Erfassung des ganzen Beugungsbildes das For- 

 mat 6 X 6 cm, jetzt asymmetrisch zur Gerateachse 

 liegend, benutzt werden. 



Unterhalb der Projektive miissen. wie schon er- 

 wahnt, die Objekt angeordnet werden, bei Betrieb 

 des Geriites als Elektronenbeugungsapparatur. 

 Hierzu sind 4 Flansche (siehe Abb. 1) vorgesehen, 

 die zur Einbringung spezieller Objekthalterungen, 

 gegebenenfalls einer Praparatschleuse, oder Vorrich- 

 tungen zur Reinigung der Oberfliiche durch Abglim- 

 men, dienen. Die Abb. 1 zeigt die Ansicht der 

 Mikroskopsaule. 



An speziellen Zusatzgeraten zur Anwendung des 

 Mikroskopes als Beugungsapparatur wurden zu- 

 niichst (gemeinsam mit K. H. Brauer) ein Manipula- 

 tor fur streifende Elektronenbeugung und cine An- 

 ordnung zur kinematischen Elektronenbeugung nach 

 Boettcher und Thun (3) gebaut und crprobt. 



Der Manipulator fur Elektronenbeugung bei strei- 

 fendem Einfall unterscheidet sich von bekannten 

 Konstruktionen (4) vor allem dadurch, daB der zu 

 untersuchende Kristall in einem Goniometcrkopf 

 gehaltert wird, welcher in reproduzierbarer Lage in 

 den Manipulator einzusetzen ist. In einer einfachcn 

 Hilfsvorrichtung, unter Benutzung eines ublichen 

 Lichtmikroskopes, wird zunachst ein geeigneter Be- 



reich der zu untersuchcnden Kristaliniiche ausge- 

 sucht und durch die Vcrstcllmoglichkeitcn des Go- 

 niometerkopfes „polar" zur azimutalen Drehachse 

 des Manipulators einjustiert. Dies bietet den Vorteil, 

 daB nach Auffindcn des Beugungsbildes durch Ver- 

 schiebung in der /um Slrahl senkrcciilen Ebcne und 

 Einstellung des Glanzwinkels. das Beugungsbild bei 

 azimutaler Vcrstellung iiber alle Winkel crhaltcn 

 bleibt und dadurch z. B. Winkelunterschicde von 

 Netzebencn direkt gemcssen werden konnen. DaB 

 der Manipulator mit Stromdurchfi.ihrungen fur Auf- 

 heizung des Objektes, Bcdampfung und Tempcra- 

 turmessung versehen ist, sei erwiihnt. 



Fiir ein Zusatzgeriit zur Herstellung von kine- 

 matischen Beugungsaufnahmen sei kurz an die 

 Mcthode erinnerl. Bei der Untersuchung kristalliner 

 Schichten, die ein Debyc-Scherrer-Diagramm erge- 

 ben, wird zentrisch durch einen Spalt ein sehr 

 schmaler Bereich ausgeblcndet. Die dadurch auf die 

 darunter behndliche Photoplattc auffallende ..Punkt- 

 folge" wird bei einer Bewegung der Platte zeitlich 

 aufgelost. Auf die Struktur einwirkende Veriinde- 

 rungen des Priiparates, wie z. B. Phasenumwand- 

 lungen bei Erwiirmung, konnen damit in ausge/eich- 

 neter Weise verfolgt werden. 



In der vorliegenden Anordnung wird zur Regi- 

 strierung keine Platte, sondern ein auf eine Trommel 

 aufgespanntcr Filmstreifen von 9 24 cm verwen- 

 det, da sich eine Drehbewegung gegeniiber dcm 

 Vorschub einer Platte besser mit der erforderlichen 

 Genauigkeit durchfiihren liiBt. Ein gut rcgelbarer 

 Motor in Verbindung mit einem einfachcn Getriebe 

 erlaubt eine Wahl der Filmgeschwindigkciten im 

 Bereich von 0.06 bis 0,7 mms. Ein unter Vakuum 

 mittels Mikrometerschraube verstellbarer Spalt er- 

 laubt Spaltbreiten von 0,01 bis 8 mm (die .S mm 



Abb. 2. Teilansicht des Mikroskoptubus mit Zusatzgeraten 

 fiir Bcugung an Obertlachen und zur kinemalisclien Siruk- 

 turuntersuchung. 



