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W. C. NIXON 



Berechnung der Aperturen maBgebende Emissions- 

 fleck hinter der Kathode liegen. 



Der Richtstrahlwert i?(a) fur einen bestimmten 

 Offnungswinkel a ergibt sich aus dem durch eine 

 Blende des Durchmessers 1 2 r flieBenden Elektro- 

 nenstrom / zu 



71 d^ 



n a 



wo a der zu r gehorige Off"nungswinkel und d der 

 Durchmesser des Emissionsfleckes ist. Dieser Durch- 

 messer wird am einfaclisten festgestellt durch elek- 

 tronenoptische Abbildung in die Objektebene (O). 

 Von hier aus kann er durch Rechnung in den Emis- 

 sionsfleck zuriickprojiziert werden, und zwar in den 

 virtuellen Emissionsfleck, dessen Abstand auch der 

 Berechnung von a zugrunde liegt. Dabei wird der 

 virtuelle Emissionsfleck in einem solchen Abstande 

 von der Kathode gewahlt, daB sich fur Messungen 

 mit Blenden in verschiedenen Abstiinden von der 

 Kathode (z. B. Ba und Bq) dieselben Werte fur 

 i?(a) ergeben. 



Fur die vorHegende Anordnung ergab sich auf 

 diese Weise ein Abstand zwischen wirklichem und 

 virtuellem Emissionsfleck von 100 mm. Bei einem 

 Totalstrom der Emission von 0,5 mA erhielten wir 

 damit die in Fig. 3 eingetragenen Richtstrahlwerte. 

 Die Messungen wurden an einem mehrere Tage 

 eingebrannten und somit iiber lange Zeit stabilen 

 Fleck durchgefuhrt. 



Es ist auffallend, daB man es bei der Emission der 

 kalten Kathode off'enbar mit einem Hohlstrahl zu 

 tun hat, welcher bei einer Apertur von 1,5 10"^ 

 seine groBte Intensitat ausstrahlt. Der Unterschied 

 im Richtstrahlwert zwischen diesem Off'nungswinkel 



und den bisher benutzten von 0,3 bis 0,5 10"^ ist 

 ofi'ensichtlich wesentlich groBer als die durch Varia- 

 tion der Beschleunigungsspannung erzielten Unter- 

 schiede. Immerhin kann auch mit Steigerung der 

 Beschleunigungsspannung noch eine Erhohung des 

 Richtstrahlwertes erreicht werden. 



Da bei der in Fig. 2 gezeigten Anordnung die 

 Flachendichte j des Elektronenstromes im Praparat 

 und damit die Helligkeit im Bild gegeben ist durch 



und anderseits fi gegeben ist durch die weiteren 

 Abbildungsbedingungen, so kann die grdBte Hellig- 

 keit dadurch erreicht werden, daB a = 1,5 ' 10~^ ge- 

 macht wird. 



Es ist auf diese Weise gelungen, durch Abanderung 

 der Distanzen zwischen virtueller Kathode und Kon- 

 densor auf den giinstigsten Wert und durch gleich- 

 zeitige Erhohung der Beschleunigungsspannung auf 

 60 kV im Triib-Tauber-Mikroskop, Typ KM4 eine 

 Helligkeitssteigerung im Endbild von einem Faktor 

 6 zu erzielen. Die Forderung der Histologen konnte 

 also erfiillt werden, und zwar zeigt die mit der 

 neuen Beleuchtungseinrichtung erzielte Auflosung, 

 daB die Geschwindigkeitsverteilung der Elektronen 

 auch iiber diese Winkel geniigend ist. 



LJber weitere Experimente mit demZiel, die Richt- 

 strahlwerte fiJr kleinere Offnungswinkel zu erhohen, 

 soil an anderem Orte berichtet werden. 



LiTERATUR 



1 . lNDUNi,G.,Comptes rendus du colloque CNRS a Toulouse 



1955, S. 189. 



2. MoLLENSTEDT, G. und DuKER, H.,Z. Natiirforsch. 8a, 79 



(1953). 



3. Wegmann, L., Optik 10, 44 (1953). 



Summary of the Proceedings of a Symposium on X-Ray Microscopy 

 and Microradiography, Cambridge University, England, 



August 16—21, 1956 



W. C. Nixon 



Cavendish Laboratory, Cambridge 



<i 



Die Roentgenstrahlen-Mikroskopie ist ein Stief- 

 kind der Elektronenmikroskopie." For several years 

 the results of attempts at x-ray microscopy have 

 been reported at electron microscopy meetings such 

 as this one through the kindness and tolerance of 

 the organizing committees. By 1956 sufficient work 

 had been done in this field to justify a conference 

 devoted to x-ray microscopy and divorced from 

 electron microscopy. This is a very brief summary 

 of the meeting, with facts first, followed by results 



and conclusions. No micrographs are shown as it is 

 impossible to choose one or two only from the large 

 number presented. 



The first International Symposium on X-Ray 

 Microscopy and Microradiography was held at the 

 Cavendish Laboratory, Cambridge University, Eng- 

 land, August 16-21, 1956, with the sponsorship of 

 the International Union of Pure and Applied Physics 

 and assisted by funds from UNESCO, the Royal 

 Society, and several industrial and private contri- 



