Kontrast diinner Schichtcn im Elcktionenmikroskop 



75 



100 



001 0.02 003 0.04 0,05 0.06 0.07 08 ;• 



0.01 0.02 0.03 004 005 006 0.07 0.08 



la 



lb 



0,01 0,02 03 0.04 0.05 0.06 07 08 



0.01 02 03 04 0.05 06 07 08 ,• 



Ic 



Id 



Abb. 2 a-e. Die Durchlassigkeit als Funktion der Apertur 

 bei verschiedenen Massendicken in //g/cm- angegeben. Aus- 

 gezogene Kurven aus der Theorie eriialten; gestrichelte Kiir- 

 ven durch die MeBpunkte gezogen. 



Massendicke im Sublichtmikroskopischen sehr un- 

 gleichmaBig ist wie z. B. bei Gold und Silber. 



Das Elektronenmikroskop liiBt sich also bei Sub- 

 stanzen mit einigermaBen gleichmaBiger Schicht- 

 dicke nach Eichung zur Dickenmessung benutzen. 

 Der MeBbereich laBt sich dabei durch Verandcriing 

 der Objektivapertur in gewissen Grenzen verandern. 



Leider laBt sich aber die Abhiingigkeit der Durch- 



I'l <^<^' 



03 



005 



07 



le 



Abb. 3. Die Abhangigkeil der Durciiiassigkeit von der 

 Schichtdicke fur Kohle bei 50 kV, Apertur 0,03. 



liissigkeit von der Schichtdicke nicht ohne weiteres 

 aus dem hier benutzten cint'achcn Ansatz und den 

 in der Literatur bekannt gewordenen Berechnungen 

 entnehmen. Die Abweichungen hegen bei den leicht- 

 atomigen Elementen in der Richtung. daB die Lcnz- 

 schen Werte I'iir die Aufhellungsdicke zu kiein sind, 

 man muB vielmehr fiir die Auliielkingsdicke Zahicn 

 einsetzen, die in der Niihe der Leisegangschcn Werte 

 liegen. Bei den schweratomigen Elementen lassen 

 sich die Abv\eichungen in erster Linic so deuten, 

 daB man fiir die Winkelkonstante gegeniiber dem 

 theoretischen Wert einen kleineren Wert cinzusetzen 

 hat, um /u einer besseren Angleichung der Mes- 

 sungen an die Theorie zu kommen. 



Literatur 



1. VON BoRRiES, B.,Z. Naturforsch. 6a, 51 (1951). 



2. Leisegang,S.,Z. Physik 132, 183 (1952). 



3. Lenz, F.,Z. Naturforsch. 9a, 185 (1954). 



4. Wentzel, G., Z. Physik 40, 590 (1927). 



