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W. D. RIECKE 



20T und 201 auftreten. Dabei werden die entsprechen- 

 den Interferenzstrahlen 2. Ordnung vernachlassigt, 

 die oft sehr schwach sind und, wie experimentell 

 festgestellt werden konnte, fur die Abbildung von 

 Netzebenen nicht unbedingt notwendig sind. 



Abb. 6 a, h zeigt das Ergebnis der Rechnung fiir 

 eine Einstrahlung parallel zu der Netzebene 20T zu- 

 sammen mit einer experimentellen Kurve, die durch 

 Photometrierung des Elektronenbildes von_ Ni- 

 Phthalocyanin senkrecht zu der Netzebene 201 ge- 

 wonnen wurde. 



Aus den theoretischen Kurven, die fiir die Inten- 

 sitiitsverteilung verschiedener Kristalldicken gelten 

 und dabei gleichzeitig ein anschauliches Bild der 

 Anderung der Intensitatsverteilung beim Fortschrei- 

 ten durch den Kristall liefern, ersieht man, daB der 

 Kontrast, mit dem die Netzebenen abgebildet wer- 

 den, in dieser Naherung eine periodische Funktion 

 der Kristalldicke ist. Weiter folgt daraus, daB die 

 Netzebenen bzw. Potentialmaxima in diesem speziel- 

 len Fall sich im Bild nicht an den Linien minimaler, 

 sondern genau an denjenigen maximaler Intensitat 

 befinden. 



SchlieBlich sehen wir als wesentlichstes Ergebnis 

 der Rechnung, daB zwischen zwei Intensitatsmaxima 

 an den Stellen der Netzebenen jeweils noch ein wei- 

 teres schwaches Maximum auftaucht, das von der 

 Uberlagerung von 20T und 201 herriihrt. DaB wir 

 dieses im Experiment nicht sehen, ist kaum durch 

 eine ungeniigende Naherung der Theorie erkliirbar, 

 sondern durch eine ungeniigende elektronenmikro- 

 skopische Auflosung oder Fokussierung. 



Herrn Prof. Dr. E. Ruska danke ich fiir die Anregung 

 und Ermoglichung dieser Arbeit sowie fiir sein forderndes 

 Interesse. Herrn Dr. H. Niehrs verdanke ich zahlreiche 

 anregende Diskussionen und Hinweise. 



LiTERATUR 



1. Menter, J. W., Proc. Roy. Soc. A 236, 119 (1956). 



2. Robertson, J. M., J. Chem. Soc. 1935/1, 615. 



3. Robertson, J. M. und Woodward, I., /. Chem. Soc. 



1937/1,219. 



Investigation of High Resolution Electron Diffraction Patterns from 

 Individual Micro-Crystals by Using a Three-Stage Electron Microscope 



W. D. RiECKE 



Fritz-Haber-Imtitiit der Max-Planck-Gesellschaft, Berlin-Dahlem 



Besides the visual examination of individual sub- 

 microscopic crystals in bright and dark field micro- 

 graphs, the observation of their diffraction patterns 

 will be of interest. As is well known, the chemical 

 nature or the lattice structure of the crystal can be 

 determined under favourable experimental condi- 

 tions. Moreover, as will be shown in this paper, 

 diffraction experiments in the submicroscopic region 

 may be carried out by combining micro-diffraction 

 and high resolution diffraction. Apart from the dif- 

 fraction pattern, shape, size, and orientation of the 

 scattering crystal may be visually observed on the 

 final screen. It thus became feasible to examine the 

 fine structures at the undiffracted beam, which had 

 hitherto escaped observation. For an interpretation 

 of the diffraction effects, the defocused diffraction 

 pattern may furnish valuable clues. 



Electron diffraction patterns of small specimen 

 areas. — Up to now, three methods have been em- 

 ployed to produce electron diffraction patterns of 

 small specimen areas: (i) v. Ardenne (1) used a small 

 stop, 6 n in diameter, which he placed just above 

 the specimen. Thus, the area irradiated by the con- 

 denser lens was limited to this size, (ii) v. Ardenne 

 and co-workers (2), Hillier and Baker (4) as well as 

 Ruska and Wolff (11) produced a considerably de- 



magnified image of the electron source in the plane 

 of the specimen. They obtained illuminated areas of 

 the order of 1 //. (iii) Boersch (3) placed an aperture 

 of a diameter D in the plane of the first-stage 

 image of the specimen. Thus, all the rays were 

 screened except those emanating from an object 

 area d = D'M in diameter. Here M is the magnifica- 

 tion of the objective lens. 



The experiments to be carried out required the 

 production of high resolution diffraction patterns of 

 specimen areas about 1 /t in diameter. Moreover, 

 the scattering region had to be identified precisely 

 by visual observation of the final screen or examina- 

 tion of the electron micrograph. Method (iii) seemed 

 to be the best suited for this purpose. The reasons 

 are as follows: With method (i) v. Ardenne (1) used 

 stops of very small diameter, which contaminate 

 rapidly. Apart from this, it is mechanically difficult 

 to obtain well rounded bores less than 5 // in dia- 

 meter. Ruska and Wolff (11) (method ii) employed 

 a double condenser to obtain a demagnified image 

 of the cross-over in the specimen plane. The angle 

 of illumination in this plane is kept low by inserting 

 small-diameter stops into the bore of the second con- 

 denser lens. A diffraction resolution of 500 to 1000 

 can be obtained with this arrangement. Unfortu- 



