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de paramètre fondamental dont on pourra partir pour déterminer les 

 principales dimensions. En admettant que l'on éclaire avec un arc à mer- 

 cure en quartz et que l'on utilise des franges de lames argentées sensible- 

 ment analogues à celles que j'ai employées, on devra disposer du para- 

 mètre A de façon que son rapport à celui de l'appareil type soit au 

 moins égal au rapport des temps de pose minima correspondants. 



J'ai dit qu'en première approximation l'illumination des miroirs 

 était, avec des lentilles sphériques, indépendante des dimensions de 

 l'image lumineuse formée sur eux. On aperçoit immédiatement un 

 moyen d'accroître dans de notables proportions cette illumination en 

 formant l'image parallèlement à la fente du cylindre et en condensant 

 la lumière par la substitution aux lentilles sphériques de lentilles cylin- 

 driques à axes horizontaux. Les paramètres W et A seront multipliés 

 par le rapport des dimensions transversales de l'image non déformée à 

 l'image déformée, et l'on aura le moyen d'enregistrer les vibrations les 

 plus rapides. 



IX. L'examen des oscillogrammes peut se faire de deux manières. 

 Quand les ondulations sont assez resserrées, on peut les examiner avec 

 un microscope à platine mobile et oculaire micrométrique donnant un 

 grossissement extrêmement faible (5 à 6 par exemple). La méthode est 

 précise, mais laborieuse, et inapplicable à l'étude d'une bande pellicu- 

 laire d'une certaine longueur. Le procédé le plus expéditif consiste à 

 introduire la pellicule dans une lanterne à projection et à en former 

 l'image agrandie 5 ou 6 fois sur un écran. Les clichés, même les plus 

 médiocres, donnent de bons contrastes sur le fond très blanc de l'écran et 

 l'on peut dessiner sur celui-ci les courbes oscillographiques. 



La précision atteinte de la sorte dépasse le centième de micron, ainsi 

 que cela résulte d'une série de 20 mesures différentes que j'ai effectuées 

 sur une même demi-onde de l'oscillogramme (fig. 3). L'erreur moyenne 

 de cette série d'observations a été 



m 



/S (résidus) 2 



= à / = o, 004 |X 



y 20 — 1 



et la limite supérieure des résidus 



0,008 [a, 

 soit : jjç de micron. 



X. Le récepteur téléphonique a depuis longtemps, et en dehors 

 de ses applications à la téléphonie et à la T. S. F., acquis droit de 

 cité au laboratoire et à l'usine. Il est couramment employé pour les 

 mesures de résistance, d'inductance, de capacité, de longueur d'onde, 

 pour les recherches des défauts dans les lignes, la localisation des con- 

 duites métalliques souterraines, etc. Galvanomètre extrêmement sen- 



