146 Sekundärstrahlung. Intensitätsmessung nach der Luftleitungsmethode. 



Ist die Luftschicht im Meßraum so dünn, daß wesentliche Geschwindigkeitsände- 

 riiiigen innerhalb derselben nicht vorkommen, so kann s unmittelbar mit Hilfe der jeweils 

 bekannten Anfangsgeschwindigkeit aus der Kurve Taf. VII oder aus Tab. IV ent- 

 nommen werden*". 



Größere Schichtdicken können unterteilt behandelt werden, indem für jede Teil- 

 schicht die zugehörige Geschwindigkeit und relative Intensität aus den Kurven Taf. IV, 

 V, VI entnommen wird (Luftdicken massenproportional auf AI-Dicken umgerechnet 

 vgl. Abschnitt I C). Vorteilhafter ist aber für dicke Schichten die Benutzung der (unmittel- 

 bar für Schichten über Grenzdicke geltenden) totalen Sekundärstrahlung S (Taf. VII). 



/■ , Ji 



Man hat dazu die beobachtete Scheinintensität / Jsdx = J S —J^Si = J (S — — - Si) zu 



setzen, wo S zur bekannten Eintrittsgeschwindigkeit der Strahlen gehört, Sj zu der aus 

 Tafel II oder auch IV, V, VI zu entnehmenden, am Ende des Meßraums erreichten Ge- 

 schwindigkeit, während Ji/J, das Verhältnis der End- und Anfangsintensität, eben- 

 falls aus Taf. IV, V, VI entnommen werden kann (Luftdicken massenproportional als 

 AI-Dicken gerechnet, vgl. III D 1 und I C) und woraus die wahre Intensität J ermittelbar ist. 



Für Schichtdicken über Grenzdicke gilt unmittelbar die totale summarische Sekundär- 

 strahlung S (Taf. VII oder Tab. IV), siehe 2. 



ß) Absolute Zahlen der in gegebener Schichtdicke freigemachten Sekundär- 

 elektronen (summarisch) pro cm^ Primärstrahlquerschnitt und Sek. sind bei kleiner 



Ji , . 



Schichtdicke x gegeben durch Jsx, bei größerer Schichtdicke durch J(S — Si) m 



der soeben erläuterten Weise, bei Schichtdicken über Grenzdicke (v»obei Ji=0) durch JS. 



Ebenhierdurch sind auch die entstandenen Trägerpaarzahlen absolut gegeben. 



y) Auf die theoretische Benutzung von s, S und s' gehen wir im Abschnitt VI 

 unter C, D ein. 



2. Totale (summarische) Sekundärstrahlung S. 



Hierunter verstehen wir, wie bereits im Allgemeinen Teil (IV) definiert, die ge- 

 samte von einem Primärelektron auf seinem ganzen, bis zur Grenzdicke X im betreffen- 

 den Medium verlaufenden Wege frei gemachte Elektronenzahl, bzw. erzeugte Träger- 

 paarzahl. Diese totale Sekundärstiahlung S ist bisher noch niemals Gegenstand direkter 

 absoluter Messung gewesen; sie kann jedoch aus der differentialen Sekundärstrahlung s 

 berechnet werden. Es ist, der Definition nach, 



X X 



S = -L / Jsdx = — / Jsdx= / e-='''sdx 



Jq ./ "'o ./ ./ 



19) 







wo sowohl a als auch s Funktion von v sind (nach Taf. III bzw. VII), welches selbst 

 längs X sich ändert (nach Maßgabe von Taf. II). 



"^j Wenn demnach seichte Meßkammern den Vorteil einfacher, bestgesicherter Reduktions- 

 rechnung in Hinsicht der Luttwirkung bieten, so haben sie doch den Nachteil, daß Sekundärstrah- 

 lung, Rückdiffusion und Wellenstrahlung von den Wänden überwiegenden Einfluß gewinnen, wofür 

 keine Korrektion angebbar ist, weil die genaue Abhängigkeit sowohl der Intensität als der Träger- 

 bildungsfähigkeit dieser Sti'ahlungen von der Geschwindigkeit der zu messenden primären Strahlung 

 im allgemeinen unbekannt ist (vgl. VU2g und IlIB3a). Tiefere Meßkammer ist also im allgemeinen 

 vorzuziehen, da sie prinzipiell einfacher funktioniert. 



