Elektronendichten; flächenhafte Strahlenquellen. Spez. Teil VII D 4e. 225 



ß) Strahlt die Quelle allseitig gleichmäßig^*^ (wie z. B. eine radioaktive Schicht) 

 mit der (einseitig gemessenen) Intensität J^, su sind (nach Vorigem) die Elektronen- 

 zahien an der Grenzfläche: 



in Richtung nach der Platte 1 hin Z"*" = Jq 



in Richtung nach der Platte 2 hin Z~ = Jq 



und die austretenden Intensitäten: 



aus der Platte 1 Jo^i 



aus der Platte 2 JoSg 



1 + p, 



2 



1 - Plp2 



1+Pl 



I-P1P2 



I+P2 

 I-P1P2 



1 + Pl 

 I-P1P2 



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E. Experimentelle Ermittelungen der Rückdiffusionskonstante p. 



Die für die vorstehend entwickelte Theorie (D) charakteristische Konstante p, aus 

 welcher auch der Umwegfaktor B folgt, ist im Prinzip sehr leicht zu ermitteln; man hat 

 nur die von einer genügend dicken Platte des betreffenden Materials rückdiffundierte 

 Intensität im Verhältnis zur autfallenden zu messen, Normallauf der Strahlen voraus- 

 gesetzt. Der einwandfreien Durchführung stellen sich allerdings mehrere Schwierig- 

 keiten entgegen. Es entstehen nämlich Sekundärstrahlung und VVellenstrahlung in der 

 Platte, die nicht mitgemessen werden dürfen, bzw. eliminiert werden müssen, und wer- 

 den die Intensitäten durch Luftleitung gemessen, so kommt noch hinzu, daß rückdiffun- 

 diertc Strahlung stets stark und zwar in schlecht angebbarem Betrage verlangsamt 

 ist, was die Korrektion der Intensitätsmessung sehr erschwert. Die Aul.lerachtlassung 

 dieser Schwierigkeiten, besonders der Sekundärstrahlung, ist der Grund, warum von den 

 Rückdiffusionsmessungen, welche — wohl wegen der prinzipiellen Leichtigkeit der Auf- 

 gabe, namentlich bei Benutzung radioaktiver Strahlenquellen — fast unzählig ver- 

 öffenthcht worden sind"^, nur zwei in Betracht kommen, wenn wirklich die Konstante p 

 auch nur in Annäherung ermittelt werden soll; es sind das für mittelschnelle Strahlen 

 die Messungen von A. Becker und für schnellste Strahlen die von H. W. Schmidt, 

 welche beide schon unter den grundlegenden Arbriten dieses Abschnittes betrachtet worden 

 sind (B 2 a und ■'<). Da in beiden Arbeiten bei der damaligen Neuheit des Gegen- 

 standes die vollständige Reduktiim der Beobachtungen noch nicht durchgeführt ist, 

 soll dies hier, soweit die Daten dazu ausreichen, mit Hilfe der gewonnenen Gesamt- 

 kenntnis nachgeholt werden. Es zeigt sich dabei auch, welche Gesichtspunkte für künf- 

 tige Rückdiffusionsmessungen (auch zugleich Oberflächensekundärstrahlungsmessungen) 

 maßgebend wären. 



*") Dieser Fall ist beispielsweise von Belang für die Rückdiffusionsmessungen von H.W.Schmidt 

 a. a. O. und er ist dort auch bereits entwickelt. 

 "-) Vgl. Noten 367, 550, 551, 558. 



Abhandlungen der Heidelberger Akademie, math.-naturw. Kl. 5. Abb. 15 



