Elimination und Messung der Sekundarstrahiung. Spez. TeiM/lI^E^^^ 227 



ohne die Schicht Jo ^", 



mit der Schicht (Dicke d, Abs.Verm.a) .Im = Jo (l-p^)e-="^ (l + aj . 



Es ist also (1-p'') (l+'^a)=Jm/Joe-°"' , 70) 



worin die rechte Seite bei bereits gemessenem a nur bekannte Versuchsdaten enthält. 



b) Vakuumkäfig, wie bei a, die Schicht jedoch leitend mit ihm verbunden (S. 428 

 u. ff. a.a.O.). Der Käfig fängt auf: 



ohne Schicht io , 



mit der Schicht J = io ( ' - P) - 'o^e - ioP'°a • 



Es ist also I - p' - o,, - p'a, = J / io > 71) 



wieder mit nur bekannten Versuchsdaten rechts**^. 



c) Blanke Metallplatte als Auffänger mit (isoliert von ihr) dicht vorzuschaltender 

 Schicht (S. 432 u. ff. a.a.O.). Die Platte sammelt: 



-ad 



r^ 



1 +r 





ad 



l +K-'^e)/(^+'-) _ Je 



1 - p' - a, - p'oj Joe" 



wonach (1 - p) ^ -, — ^ ^ji — = ^ ^-ad • '^' 



d) Wie unter c, jedoch elektrisches Feld zwischen Platte und vorgeschalteter 

 Schicht herstellbar, erstere positiv geladen. Die Platte sammelt (stets mit der Schicht): 



ungeladen J„ = !„ (1 - p) 1 + ^ ^je"'^'' (wie unter c), 



ad I /, ,, j „ \ ; „ — ail 



positiv geladen«" J+ = Iq (1 - p) e "'' ^ {n,\> + 's, 



e 



^^) Wir benutzen für die aus den Tabellen des Originals einzusetzenden Beobachtungsdalen 

 dieselben Zeichen wie dort. 



*") In dieser Gleichung, sowie unter c, ist für de die Primärstrahlung im Parallelfall, sonst überall 

 im Normalfall. Dies kann einen Unterschied bedingen, den wir nicht berücksichtigt haben, der aber 

 nicht groß sein kann, da die Oberflächensekundärstrahlung nur aus so dünner Schicht stammt (weit 

 unter xj), daß ein Umwegfaktor kaum in Betracht kommen kann. Für Neuausführung von Versuchen 

 zur Ermittlung von p und o wäre es aber offenbar besser, durch Vorschaltung einer dünnen Schicht 

 des zu untersuchenden Materials stets Normallauf der einfallenden Strahlung herzustellen. 



"^"j Platte und Schicht werden hier aus demselben Material vorausgesetzt (AI). 



"") Alle an die Platte kommende Sekundärstrahlung an ihr festgehalten (16 Volt als genügend 

 angenommen, um echte Reflexion zu verhindern, vgl. B4); alle weggerichtete Sekundärstrahlung am 

 Weggehen verhindert. 



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