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R. A. VVülfing: Ein neues Polarisationsmikroskop usw. 



Die stark ausgezogenen Kiirven gehen nur den großen Zug in dei' Form dieser Brenn- 

 flächen wieder. Wieweit die Abweichungen der Einzelbestimraungen von diesen Haupt- 

 zügen auf Beobaclitungsfehler oder aiif EigentümUchkeiten der Brennflächen zuriickzii- 

 führen sind, habe ich mit meiner jetzigen Apparatur noch nicht sicher entscheiden können; 

 indessen möcjite ich doch vormuten, daß es sich an verschiedenen Stellen um wellenför- 

 mige Aus- und Kinhuclilmigen jener Brennflächen handelt. 



Wohl jeder, dei' solche Brennflächen noch nicht genauer ausgemessen hat, wird 

 überrascht sein, wie weit sie sich in vei'tikalei' Richtimg ausdehnen^. Man sieht, daß sie 

 alle viel stärker als die zugehörigen Kugeln gekrümmt sind. Dennoch aber kann die 

 Größe k mit steigender Apertur bald zunehmen, bald abnehmen: das hängt nicht von 

 der Höhe der Brennflächen, sonderu vnu dem Verhältnis der Dimensionen d zur 

 numerischen Apertur 11 ab. Wenn man also mit F. Becke sagt (1. c), daß die Brennfläche 

 bei manchen Systemen sich nach außen liia weniger gewölbt und bei andern Systemen 

 stärker gewölbt als die Kugel darstellt, so muß man dies nicht auf die wirklichen, son- 

 dern auf andere Brennflächen beziehen, die man etwa als absti'ahierte Brennflächen 

 bezeichnen und auf folgende Weise erlialten kann. Dei' (^)uersclmitt der wirklichen Brenn- 

 fläche des Trockensystems Fueß Nr. 7 ist in Figur 25 in der Kurve 2;, 1;, A, Ij^, 2^, 3^, 4^, 

 Dg, 6g dargestellt. Hieraus kaiui mau uiui zwei alistialiierte Brennflächen ableiten, von 

 denen die eitujsich auf Winkel in Luft imd die andere auf Winkel in Glimmer bezieht. Bei 

 demTrockeusystem Ni'. 7 k<)nnte man sich allerdings auf die Wiedergabe der abstrahierten 

 Brennfläche in Luft hesdiränken, weil hier alle Puukt(> zur Darstellung kommen; bei den 

 Immersionssystemen mit den Aperturen 1j>1 ist man aber doch gezwungen auf die 

 andern Flächen einzugehen, daher möge dies auch schon bei dem Trockensystem geschehen. 



Man konstruiei'c die Punkte C^ und C^, von denen der erstere im Abstand der Äqui- 

 valentbrennweite unter dem höchsten Punkt (Null) des Interferenzbildes, und der 

 letztere ßmal tiefer liegt, wo ß der jnittlere Brechungsexponent des Glimmers ist. In- 

 folge der Vergrößerung der FigiuM^u ist also r,^=^ SS'/^ min und C^ :^ 53Y„ mm. 





Fließ Nr. 7. 

 Fi<i;m' 1'k 



^ Mau wird lüeruach begreifen, wie wenig sicli die nuf einem (^Uaslafelehon angebrachte Mikrometer- 

 skala, die H. Lenk (Zeitschr. f. Kristallogr. 25, 1896, 379) an jener Stelle der Objektive einlegt, wo das pri- 

 märe Interferenzbild entsteht, den Verhältnissen anpaßt. Man darf eine solche Skala, was übrigens It. Lenk 

 ganz richtig hervorhebt, nur bei kleinen Achsenwinkeln gebrauchen. 



