in prisnaatischen Krystallen mit Hilfe «les polarisiiten Lichtes. ^Ol 



folglich 



h = - — ^' '^■. — ; r, (\ + sec. 9 4- sec. ii) 



tg. ^~ . sec. (f- . tij. 'f- ^ ^ ' ^ 



und P, (die Drehungsebene) 



tg. ip sec. f . X -\- ig. f . y -\- tg. '■p^ . sec. <p^ -\- ig. <p-) s = 0. 

 3. In manchen Fällen lasst dieses Verfahren eine grosse Ver- 

 einfachung zu, in manchen dagegen wird es unbequem und man kann 

 einen ganzen Krystall zerschleifen ehe man die zweite Trace lindet. 

 Ist man im Stande an einem Minerale, das eine Zusammensetzungs- 

 fläche zeigt, die Trace derselben auf irgend einer Schlifffläche, wel- 

 che die Ringsysteme zeigt, zu markiren, so wird es am einfachsten 

 scheinen die Neigung dieser Linie gegen die Trace der Ebene der 

 optischen Axen zu messen (wozu an dem Instrumente ein dritter 

 Kreis nothwendig ist, welcher senkrecht auf dem Höhenkreise steht, 

 wie dies bei unserem Apparate der Fall ist), und hierauf die eine 

 Hälfte parallel jener Linie so lange beiderseits abzuschleifen, bis die 

 Ringsysteme auch in dieser genau unter demselben Azimuth erschei- 

 nen. Nennen wir d die Neigung der Trace der optischen Axen gegen 

 die Durchschnittslinie der Zwillingsfläche mit dem Querschnitte, 

 £ die Neigung des ursprünglichen Querschnittes gegen den durch 

 schiefen Schliff erhaltenen, so erhalten wir zur Ermittlung der Coeffi- 

 cienten der Gleichung P, die zwei Relationen 



1 _ „a _ 63 



b = 



sec. d 

 tg. 



tg.^ 



folglich 



(Pi) tg. o.ig.^.x—tg.^-y — ^^c. o.z ^ 0. 



Es hängt von den Umständen ab , ob man diese oder jene For- 

 mel benützt; jedenfalls führen beide zum Ziele. Die Versuche, die 

 ich machte, um zu erfahren wie gross die Genauigkeit ist, die man 



