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Jean MALBURET. — LA RECHERCHE DES ASTÉROÏDES 



ou plus tard, ils sont transparents sur fond opa- 

 que. Si nous plaçons B sur A' les taches trans- 

 parentes de A' vont se trouyer e.vactement « ob- 

 turées » par les points noirs de B, et l'épreuve 

 C sera uniformément transparente (ou, si nous 

 nous contentons de l'examen, nous ne verrons 

 aucun point lumineux à travers nos deux cli- 

 chés)... sauf pour les points pu traînées de A' 

 qui ne coïncideraient pas avec d'autres de B. 

 C'est le cas précisément pour les astéroïdes et 

 les planètes, qui ont eu le temps de se dépla- 

 cer entre la prise des deux photographies. Ils 

 ne trouveront en face d'eux que la gélatine 

 transparente du cliché négatif B et donneront 

 un point ou une traînée sur l'épreuve C. Remar- 

 quons que cette dernière est en réalité un néga- 

 tif. 



On pourrait craindre que cette multiplicité 

 des clichés ne « multiplie » les causes d'erreurs 

 provenant des défauts de la couche sensible, 

 poussières ou piqûres. Il n'en est rien, je vais 

 le faire comprendre. 



Sur les négatifs originaux A et B, et sur le né- 

 gatif final C, les poussières, piqûres, ne pour- 

 raient donner que des points blancs. Pas de con- 

 fusion à craindre, puisque les astres y sont des 

 points noirs. Quelques-uns seulement pour- 

 raient se trouver supprimés, s'ils coïncidaient 

 avec des défauts de la couche sensible. Reste 

 le positif A': aucune cause d'erreur venant des 

 négatifs A et B. Seuls, ses propres défauts don- 

 neront des taches transparentes; celles-ci se 

 trouveront reproduites sur C sous forme de ta- 

 ches noires, qui seront dès lors les seuls points 

 surajoutés. On le voit, il n'y a pas accumulation 

 des défauts : seuls ceux propres au cliché positif 

 viendront finalement en ligne de compte '. 



1. Un moyen simple de déceler les points dus aux défauts 

 de la couche sensible, c'est de faire une épreuve C avec le 



L'industrie des plaques photographiques a 

 atteint aujourd'hui un degré suffisant de perfec- 

 tion pour que ces causes d'erreurs soient relati- 

 vement peu nombreuses. En tout cas, je ne sau- 

 rais trop insister sur ce point; leur discussion 

 sera singulièrement facilitée par le fait que 

 l'épreuve C sera débarrassée de toutes les étoiles; 

 elle ne présentera, avec les quelques défauts 

 possibles, absolument que les astéroïdes, pla- 

 nètes... La simplification et la clarté seront 

 énormes. 



Quant aux procédés de repérage pour les 

 mesures à effectuer sur C, il est facile d'en ima- 

 giner de très simples. Le plus simple consiste à 

 piquer sur B quelques étoiles fondamentairs, 

 qui donneront alors sur C des points noiis. 

 L'épreuve finale constituera ainsi un document 

 sur lequel on pourra avec une grande facilité 

 effectuer à loisir toutes recherches et mesures, 

 qui pourra se conserver, se reproduire, se trans- 

 mettre. Aucun procédé jusqu'ici ne réalise ces 

 avantages, à ma connaissance. 



Théoriquement, aucun objet céleste en dépla- 

 cement ne peut échapper aux recherches. Les 

 déplacements stellaires eux-mêmes s'inscriront 

 sur nos épreuves si l'intervalle entre la prise de 

 A et celle de B estsuffisant. 



En effectuant de B un positif B' et lui super- 

 posant le négatif A, on obtiendrait' la position 

 des astres mobiles à la date où a été pris le cliché 

 B. Le cliché C ainsi obtenu, comparé à C, don- 

 nera immédiatement le parcours effectué en Ire 

 les deux dates. 



Jean Malbnret. 



négatif A et un positif de B, ou mieux encore avec un autre 

 positif A" de A et le négatif B. Les défauts de A' ne pouvant 

 être identiques à ceux de A', seuls les astéroïdes auront sur 

 les clichés résultants C et C la même situation ; les points 

 qui auront varié seront des défauts. 



