392 LÉON GUILLET — L'ÉTAT ACTUEL DE LA MÉTALLOGRAPHIE MICROSCOPIQUE 



réchaiitillon sur une surface qui use certaines 

 parties en en respectant d'autres, on pourra diffé- 

 rencier les constituants. Pour faire le 

 polissage en bas-relief, il faut utiliser 

 une matière qui épouse bien toutes 

 les aspérités de la surface. M. Os- 

 mond a conseillé le parchemin, que 

 l'on tend mouillé sur du bois dur et 

 que l'on humecte, au moment de l'uti- 

 liser, avec une poudre aussi fine que 

 possible, telle que le sulfate de cal- 

 cium précipité. Généralement, quand 

 on polit sur un substratum assez 

 mou, par exemple sur disque en feu- 

 tre, on obtient facilement le bas-relief. 

 On peut même ajouter qu'il est bien 

 rare qu'en observant un échantillon 

 poli par la méthode ordinaire, on ne 

 voie pas trace de bas-relief, s'il peut 

 se produire. L'examen au micro- 

 scope d'un échantillon simplement 

 poli est donc souvent fort intéressant et instructif. 



produit ne réagissant qu'au moment du polissage, i î 

 Ce phénomène s'explique par l'action de frotte-! 

 ment. Comme réactifs à utiliser dans! 

 ce cas, M. Osmond a conseillé l'ex" , 

 trait aqueux de la racine de réglisse 1 ' 

 (coco) ou mieux une solution à 2 °/„ i 

 en poids de nitrate d'ammonium. | 

 Cetle méthode d'attaque est généra-} 

 lement abandonnée. ; 



L'électrolyse a eu également son i 

 heure de succès; elle est délaissée ac- ' 

 tuellement. On utilisait une liqueur 

 qui, en temps ordinaire, est sans ac- j 

 tion sur l'alliage que l'on observe, I 

 mais qui l'attaque lorsque l'on fait | 

 passer le courant électrique, lequel 1 

 décompose le réactif en ses éléments, ; 

 dont l'un agit. L'avantage particulier 

 de cette méthode résidait surtout dans i 

 la facilité que l'on avait de régler l'at- i 

 taque, en augmentant plus ou moins j 



l'intensité du courant et la dilution du réactif. ! 



g. 5. — ICclaireur Ouille- 

 wiD-Nacliet. — B, C, bou- 

 tons niolletés; P, prisme 

 à rétlexion totale. 



Kig. (i. — Microscope Zciss pour l'ohservalion molalloqraphiquc — V, bouton qui commande le mouvement rapide 



du Uibe; T", bouton qui commande le mouvement rapide do la platine; M, levier qui bloque ce mouvement; M, bouton 



qui actionne le mouvemonl lent de la platine ; Tr, pignon rjui permet de manœuvrer à distance la vis micromé; 



trique et qui est relié à la lige St; S, vis immobilisant le bras tournant qui porte le pignon Tr; Sp, miroir qui 



permet d'éclairer par réllexion et qui est maintenu eu place par une tige et la vis SI. 



Le polissage -attaque, indiqué d'abord pari La méthode la plus usitée, on peut même dire la 

 M. Osmond, consiste à produire l'attaque par un ] .seule employée actuellement, est celle des réactifs 



