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dans^cette direction et comme un g^age de progrès futurs 

 plus grands encore. Je prévois les plus grands avantages 

 de son usage pour la solution des problèmes les plus diffi- 

 ciles des structures com})li(j[uées dans les diverses branches 

 de la micrographie. La construction fait en réalité époque 

 dans l'optique micrographique et présente autant d'impor- 

 tance que la découverte des systèmes à immersion homo- 

 gène de Stephenson qui date de quelques années seulement 

 ou de celle de la découverte d'Amici, vieille de iO ans (1). 



Il est un point qui n'a pas encore reçu jusqu'ici l'atten- 

 tion qu'il mérite mais qui prend maintenant beaucoup 

 d'importance, nous voulons parler du degré de réfringence 

 du milieu dans lequel l'objet est monté. Nos connaissances 

 sur ce point sont extrêmement limitées ; elles ont surtout 

 pour base ce qui en est dit dans les deux travaux de 

 M. J. Ware Stephenson, le fondateur du principe de 

 l'immersion, publiés dans le Journal royal microscopical 

 Society [Loiidon), 1882. Bien que ce sujet n'ait pas beau- 

 coup progressé j'espère que l'on découvrira des milieux 

 fortement réfringents, plus généralement utiles, pouvant ser- 

 vir avec les objets colorés aussi bien qu'avec ceux qui ne 

 le sont pas. 



Parmi les procédés que j'ai examinés dans ce travail il 

 n'en est aucun d'absolument nouveau bien qu'ils aient pu 

 n'être pas publiés dans un travail d'ensemble et n'être pas 

 familiers à tout le monde; cependant chacun d'eux, au 

 moins les plus importants et à l'exception évidemment de 

 ce qui a trait à l'immersion homogène, a été pratiqué lon- 

 guement par différents observateurs et par moi depuis de 

 nombreuses années. 



(l) Les objeclifs à imm-irsion homogène tels (ju'ils sont construits ncluulleinoiit 

 par M. Zeiss ne sont pas munis du coUicr à correction parce que le moiiuire cliuii- 

 gemeiit de distance de leurs lentilles nuit à leur parfaite correction. l\ csl do:ir, 

 ncci'ssaire d'avoir recours à des couvre-ohjets d'épaisseur à peu près uniforme pins 

 spécialement surtout avec les apochronialiques dans lesquels la cjrreriion i t lu 

 montage sont plus délicats. Si rép:iisseur du couvre-objet ditlére sensiblement de 

 Celle pour laquelle l'objeclif est corrigé, il faut compenser celte dillerence en moJi- 

 finiil la longueur du lube du microscope, en l'allongeant légèrement si le couvre- 

 id^jet est plus mince, en le raccourcissant s'il e.-l plus épais. Ce point a fiiit l'objet 

 d'un bon article dans un récent numéro du juurn;il américiin le Microfcope, 

 V. XI, 1891, (Trentou New-Jersey, U. S. A.,et ai-ssi Leipzig, A Loreulz). L'on 

 y trouve une table fort utile de cette méthode de compensation. 



