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Intensitätsverhältnisse bei Spektrallinien. 
SID (Ve rd) 
So IKT SA Tar): OMET 
e5i rd RR 
ears UR: daraus 
2 0G 
la sd) 
Bei gleichen Belichtungszeiten fällt t heraus und die 
letzte Gleichung nimmt die Form an 
RS öde (1) 
la 
Al AR Si So 1 Si SN | ; 
SSR ES (2) 
Bei kleinen Schwärzungsdifferensen (etwa < 0.20) kann 
man sich auf die drei ersten Glieder rechts beschränken, bei 
grösseren muss die vollständige Formel (1) benutzt werden. 
m ist eine för die benutzte phot. Platte charakteristische 
Konstante. Dieselbe kann mittels des Kunstgriffs der »Dop- 
pelfelder» bestimmt werden. Dabei wird vor den Kollimator- 
spalt eine Platte gestellt, deren beide Hälften verschiedene, 
aber gleichmässige Schwärzung haben und das hindurch- 
gehende Licht in einem bestimmten Verhältnis schwächen. 
Die Schwärzungsdifferenzen der beiden Hälften der Spektral- 
linien werden mit dem Mikro-Photometer gemessen. 
Bei meinen 1914 an der Technischen Hochschule in 
Aachen angestellten Untersuchungen uber die »Intensitäts- 
verhältnisse lang- und kurzwelliger elektrischer Komponen- 
ten der Serienlinien des Wasserstoffs» 1) (Star k-Effekt) 
bestimmte ich m fär Agfa-Platten und erhielt als Mittel aus 
15 + 14 Messungsreihen den Wert m = 0.64. Die bei der vor- 
!) Ann. d. Phys. 45 (1914) sowie Harald Lunelund, Undersök- 
ning av intensitetsförhållandena hos de vid elektrisk sönderdelning av 
DD H, och Ha uppkommande komponenterna. Öfvers. af Finska Vet.-Soc. 
Förh. Bd. LVII, 1914—1915, Afd. A N:o 5. 
