etwas von ihm entfernte Stelle des Striches eingestellt. Aus den Ablesungen wurde 

 später die Neigung der Mikrometer fä den gegen die Gitterstriche 



4ß, =. ß!. - ßr. 



AAr = A°— A"^ 



gebildet, wo A die horizontale und ß die vertikale Koordinatenrichtung bezeichnet und 

 die Abkürzungen für links und rechts, oben und unten gelten, und hieraus weiter 



AA=:AAi AAr 

 AB = AB„ - AB,. 



Die AA und AB, welche die innerhalb eines Quadrates veränderte Neigung der 

 Fäden gegen das Gitter darstellen, wurden zunächst zu Tagesmitteln und dann unter 

 Berücksichtigung der durch die Anzahl der Einzelmessungen bedingten Gewichte zu 

 Mitteln für jede Plattenlage (/?= „richtig", d. h. Süd oben im Gesichtsfeld; F= „ver- 

 kehrt", d. h. Nord oben) vereinigt; bei dieser Zusammenstellung wurden die für erst- 

 malig übersehene Sterne vorgenommenen Nachtragsmessungen nicht mit berücksichtigt. 

 Die resultierenden Mittelwerte 



Na = M (AA) und Ni, = M (AB) 



sind, in Schraubenrevolutionen r ausgedrückt, 



Na Nb 



Platte I, Lage R +0F0115 +o!'oo72 



» » V +0.0132 +0.0047 



Platten, Lage R +0.0179 +0.0012 



» » V +0.0181 +0.0034 



oder unter Zusammenziehung der beiden Lagen 



Na Nb 



Platte I +ofoi2 +oroo6 

 » II +0.018 +0.002 



und zwar gelten die Na im Sinne linker minus rechter, die A'';, im Sinne oberer minus 

 unterer Strich. Da die Differenzen öN der Plattenlagen im Sinne R — V 



ÖNa ÖNt, 



Platte I —0^0017 +o!'oo25 

 » II — 0.0002 — 0.0022 



oder mit den hier vorweg zu nehmenden Mittelwerten für die Distanzen der Gitterstriche 



yl-Koord. ß-Koord. 

 Platte I 12^744 i2!'769 



» II 12.747 12-777 



auf Gitterintervalle / reduziert: 



6Na ÖNb 



Platte I — o'.oooi3 +oi 00020 

 » II — 0.00002 — 0.00017 



im Höchstfalle den Betrag von zwei Einheiten der vierten Dezimale erreichen, so wurde 

 von dieser Korrektion wegen Neigung der Mikrometerfäden gegen die Gitterstriche 



