LES MÉTHODES DE FEDOROW 17 



de tourner de tf autour de N et de If autour de H dans le sens 

 convenable pour amener le plan en question normal à l'axe du 

 microscope. 



a) Mesure du retard. 



Mettant J à 45°, on déterminera le retard par l'un des pro- 

 cédés suivants : 



1" Par un coin de quartz gradué, que l'on intercalera dans 

 l'oculaire, après avoir remplacé l'analyseur du microscope par 

 un analyseur auxiliaire, placé au-dessus de l'oculaire et croisé 

 avec le polariseur. Les retards étant inverses, ce qu'on obtient 

 eu plaçant J à 45° ou à 315°, on produit la compensation du 

 minéral et observe le trait de la graduation qui à ce moment 

 se trouve au centre du réticule. Le quartz ayant été taré préa- 

 lablement, le retard est ainsi déterminé. 



2° Par le compensateur de Babinet. 



On procédera exactement suivant la méthode ordinaire bien 

 connue, ce qui nous dispense d'entrer dans des explications 

 plus étendues. 



3° Par le compensateur de Nikitine. 



Il se compose d'une plaque de quartz, à faces parallèles, in- 

 clinée de 25° sur l'axe optique (dans le quartz, de 40° dans 

 l'air), elle est fixée dans une bague et mobile autour d'un axe 

 portant une alidade qui se déplace devant un demi-cercle gra- 

 dué. Cet axe est supporté par une pièce métallique évidée au 

 centre, qu'on peut glisser à 45° des sections principales des 

 niçois, dans la gaîne pratiquée au-dessus de l'objectif pour 

 introduire les lamelles optiques sensibles. L'axe optique est 

 compris dans un plan perpendiculaire à l'axe de rotation du 

 compensateur et se trouve donc à 45° des sections principales 

 des niçois. La rotation du compensateur a un double effet : 

 celui de faire varier le chemin parcouru par les vibrations dans 

 la plaque, et de faire varier également les biréfringences, soit 

 finalement le retard R = e {n'g — n'p). 



On peut déterminer le retard qui correspond à chaque divi- 

 sion du demi-cercle gradué comme suit : Il faut tout d'abord 

 amener le plan qui contient l'axe optique perpendiculaire à 

 l'axe de rotation du compensateur ; pour ceci, après avoir 

 fixé l'appareil sur la platine du microscope, son axe étant 



Archives, t. XXXIA^ — Juillet 1912. 2 



