98 А. С. ВАСИЛЬЕВЪ, 



стояшя при натягиванш проволоки, отъ самой первоначальной установки 

 штатива, то оно будетъ вообще различно и оценить это вл1ян1е количе- 

 ственно весьма трудно. 



Этимъ я и объясняю «обстоятельство невероятное, которое остается 

 однако истиннымъ Фактомъ . . ., что есть проволоки 1 ) изменяются абсолютно 

 параллельнымъ образомъ» (стр. 42) 2 ). (См. также выше табличку на стр. 2). 



Возможность такого объяснемя нисколько не убавляется отъ того, что 

 на Стокгольмскомъ 96-ти метровомъ базисе въ настоящее время вместо 

 штативовъ построены промежуточные каменные столбы, хотя материалы, 

 относяшдеся къ этой последней эпохе, г. Едеринымъ еще не опублико- 

 ваны. Секунда и микронъ весьма малыя величины: въ Пулкове на болыпомъ 

 пассажномъ инструменте Эртеля достаточно подавить пальцемъ на тяже- 

 лый, массивный гранитный столбъ, чтобы видеть смещение миры въ не- 

 сколько секундъ. Едеринъ натяжеше динамометра передаетъ тому же 

 столбу, въ который вдьланъ целикъ прибора. 



Для объяснешя второго Факта, сообщеннаго въ Пулковскомъ отчете 

 за 1901 — 1902 годъ, обратимся къ устройству компаратора Едерина. 

 Въ Стокгольме въ 1899 году и въ Пулкове въ 1902 году онъ состоялъ 

 изъ ряда бревенъ, плотно связанныхъ болтами и представляющихъ одинъ 

 сплошной брусъ, хорошо выровненный и уложенный горизонтально. До по- 

 ловины своей толщины этотъ брусъ вкопанъ былъ въ землю. Это — кон- 

 трольный базисъ Едерина или компараторъ. По верхней площадке бруса 

 можетъ быть перекатываемъ на приспособленныхъ тележкахъ нормальный 

 жезлъ Едерина въ два метра длиною — мера штриховая. Черезъ каяадые 

 два метра къ брусу сбоку привинчены были довольно высошя до 0.6 — 0.7 

 метра подставки для микроскоповъ. 



Длина проволокъ определяется по конечнымъ точкамъ этого контроль- 

 наго базиса, а разстояше между точками измеряется каждый разъ съ по- 

 мощью вышеупомянутаго двухметроваго жезла: жезлъ вставляется сначала 

 въ первый иролетъ между микроскопами, потомъ во второй и т. д. Каждый 

 разъ съ помощью микрометровъ при микроскопахъ измеряется положеше 

 конечныхъ штриховъ жезла. 



Представимъ себе, что измереше контрольнаго базиса съ помощью 

 жезла началось. ВЬсъ жезла заставитъ первый иролетъ несколько вогнуться 

 и ближайппй микроскопъ, находящейся впереди, наклонится въ сторопу 

 жезла. Произвели надлежашде отсчеты и перенесли жезлъ во второй про- 

 леты Тотъ же микроскопъ — теперь онъ задшй — отъ такой же причины 



1) Который эталонируются одновременно, — прибавляю я отъ себя. 



2) М. ЛаёеНп. МёШойе роиг 1а тепзига(лоп <3ез Ьааее §ёос1ёз1циез аи тоуеп Дез п!з 

 тёЫНциез. 



6 



