ÖPVERSIGT AF K. VETENSK.-AKAD. FÖRHANDLINGAR 1900, NIO 2. 223 



senible designer qu'en employant plusieurs plaques on ne peut 

 pas toujours s'attendre a une parfaite élimination des deforma- 

 tions. Cependant, comnie les plaques raesurées dans cette recherche 

 ne sont qae deux, on ne peut rien dire avec certitude å cet 

 égard. 



Le resultat auquel ces recherches m'ont conduit affirme le 

 propos qu'a falt M. Scheiner dans sa »Photographie der Ge- 

 stirne» (Leipzig 1897) sur la nature des deformations. Apres 

 avoir rendu compte de ses recherches précédentes sur cette chose, 

 il dit la (p. 119): »Weitere Erfahrungen haben indessen gezeigt, 

 dass man wahrscheinlich die Verziehungen nicht der gemessenen 

 Strecke proportional setzen darf, sondern dass sie ziemlich localer 

 Natur sind und sich häufig schon auf sehr kurze Strecken hin 

 wieder aufheben.» — 



L'emploi des réseaux aux raesures photogrammétriques fut 

 au coramencement proposé, surtout pour ce but méme: éliminer 

 l'influence des deformations de la couche. Parce que les deforma- 

 tions, comme les recherches, effectuées sur elles, Tönt constaté, 

 sont, au moins en grande partie, de la nature de ne pouvoir in- 

 fluer que comme des erreurs accidentelles, du raeme ordre en- 

 viron que les erreurs accidentelles inevitables des pointés, il faut 

 peut-étre considérer que les avantages les plus grands du réseau 

 consistent en plusieurs autres circonstances. Cependant l'emploi 

 du réseau est le seul moyen de pouvoir éliminer les deforma- 

 tions, souvent montant ä des valeurs assez considérables, surtout 

 dans le voisinage des bords de la plaque. 



Seulement en employant le réseau, on peut efFectuer toutes 

 les mesures dans de petits espaces de la plaque, au moyen des 

 vis micrométriques de petites dimensions. L'influence des erreurs 

 des instruments devient la plus petite possible; les seules erreurs 

 qui puissent se produire sont les erreurs des vis et Celles du 

 réseau original. Tout l'appareil de mesure ne fonctionne que 

 comme un support fixe pour soutenir la plaque et le microscope 

 pendant les mesures. Le microscope étant pourvu de deux vis 

 micrométriques, perpendiculaires entre eux, les mesures peuvent 



