102 Jahresbericht der Schles. Gesellschaft für vaterl. Cultur. 



wo a p und a s die Reflexionskoeffizienten bezeichnen. Der beliebig ge- 

 stellte Analysator lasse nur eine Schwingung durch, die unter dem 

 Winkel y gegen die Einfallsebene geneigt ist. Das zur Beobachtung ge- 

 langende Licht hat dann die Intensität 



J = R p 2 . cos 2 y + K s 2 sin 2 y -f- 2 R p • R s sin y cos y cos Agj 

 Unterscheiden wir durch eingestrichene Buchstaben das am Glasfeld 1 

 und durch zweigestrichene das am Silberfeld II reflektierte Licht, so wird 

 Halbschatten (jy — Jn" = 0) bei einem Analysatorazimut y eintreten, 

 welches der Gleichung genügt 



= (R p ' 2 — R p " 2 ) cos 2 Yo + 0V 2 — ttVj sin 2 y 

 + (R p ' iycos A' — R p " R s " cos A") sin (2y ). 

 Hieraus folgt (wenn wir mit G eine Funktion des Einfallswinkels cp, 

 des Brechungsquotienten n und des Absorptionsindex k bezeichnen): 

 (la) tg y = ® • tg a = 



= ^ a j — V a s' C0S ^ ±V'— ( a / — V 2 ) ' (as' 2 — a s " 2 )) 



a / __ as /- 2 i + a p " a s " cos A" * +(a p 'a s 'cosA / — a p " a s "cosA") 2 j 



Nehmen wir an, daß man auf 1 °/ genau photometrieren kann, 



Jt 1 



so v/ird — - = 1 -I — und bezeichnen wir diesen Wert mit C, so erhalten 



Ju 100 



wir für den Analysatorwinkel yc, bei dem gerade noch eine Helligkeits- 



verschiedenheit der beiden Felder sichtbar ist: 



(Ib) tg y c = £ • tg a = 



_, *6 a — o P 'a 8 ' cosA' ± h r - ( / - Ca p " 2 ) • (a/ 2 — Ca s " 2 ) 



a/ 2 — Ca s " 2 / + Ca p "a s " cosA" f -f (a p 'a/cosA' — a p "a s "cosA") 2 ^. 



Die Genauigkeit der Halbschatteneinstellung wird durch die Differenz 

 yo — yc angegeben, für welche man erhält 



tg(y Q - rc ) = /V^t-ff a =«T-^tga 

 1 H- © • £ • tg a (fül , kldnes a)> 



Vernachlässigt man die Elliptizität des Silberfeldes, setzt also A" = 

 und A' = — 7i, so vereinfachen sich die Formeln sehr erheblich: es wird 



(II) tg y = tg a * * ; tg y c = tg a - 



w r o die a jetzt absolut zu nehmen sind. 



Nach beiden Formeln I und II kann der Faktor & und § und die 

 Genauigkeit y — yc berechnet werden. 



Bei der experimentellen Untersuchung der Fehlerquellen 2) und 3} 

 zeigte es sich, daß man durch sorgfältige Herstellung der Silberfelder 

 (ausgeführt von der Firma C. Zeiss in Jena) eine im Halbschattenbilde 

 wenigstens zum großen Teil verschwindende scharfe Trennungslinie erhalten 

 kann. Bleibt dieselbe sichtbar, so vermindert sich die Einstellungsgenauig- 



