174 W. Einthoven, F. L. Bergansius und J. Bijtel: 
wirkliche Liechtlinie, die stark und ausgezogen angegeben ist, folgt 
dabei dem Wege P,B, b,B,P.,. 
Mit der gestrichelten Linie ist die Veränderung der Einstellung 
‘des Mikroskops I angegeben worden. Dabei wird 5, nach b, ver- 
schoben, während der Lichtstrahl von 5, weiter in der Richtung der 
punktierten Linie durch 5b, und b, nach », läuft, wo er den Schirm 
schneidet. Die geringfügige Veränderung der Mikroskopeinstellung 
von D, nach 5b, hat also eine bedeutende Verschiebung des Bild- 
punktes auf dem Schirme von P, nach p, zur Folge. 
Die Empfindlichkeit der Methode hängt von den angewandten 
Vergrösserungen ab. Während wir für eine Berechnung dieser 
Empfindlichkeit nach dem Anhang I verweisen, beschränken wir uns 
hier auf die Erwähnung einiger Resultate. 
Die Vergrösserung von P, nach P, sei und diejenige von P; 
nach P, sei V. 
Der Wert von ®v hängt von der Tubuslänge ab und darf beim 
Gebrauch eines Objektives von 4 mm Brennweite auf 45 angesetzt 
werden. Nehmen wir für V einen Wert von 600 an, so erhalten 
wir für eine Einstellungsveränderung von 0,1 mm folgende Ver- 
schiebungen des Bildpunktes auf dem Schirme: 
für «&—=0,1° wird P,9;—= 4,75 mm 
a — 0b Ben: — 25 Am 
» P, P5 — 78,3 » 
Die optischen Achsen beider Mikroskope sollen nun in bezug 
aufeinander so gerichtet werden, dass bei einer Veränderung der 
mikrometrischen Einstellung des Mikroskops I der Bildpunkt P; 
sich nicht mehr verschiebt. Das praktisch zu erzielende Resultat 
bediugen die Konstruktion und die präzise Bearbeitung des Galvano- 
meters selbst. Insbesondere soll die Richtung, in welcher jedes 
Mikroskop mittels seiner Mikrometereinstellung verschoben wird, 
genau parallel seiner optischen Achse laufen. Wir hoffen, später 
auf diesen Punkt zurückzukommen, glauben aber doch schon jetzt 
wohl erklären zu dürfen, dass es bei einem gut konstruierten In- 
strumente leicht ist, die Abweichung in der Richtung der optischen 
Achsen zu 0,1° und weniger zu reduzieren. 
Fig. 2 bildet eine Veränderung in der Einstellung des Mikro- 
skops I ab; man erzielt jedoch dasselbe Resultat, wenn man Mikro- 
skop I in Ruhe lässt und die Mikrometereinstellung des Mikroskops II 
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