Optische Untersiichungsmethoden. 59 



Durch die mit einem Zählwerk verbundene A'Iil<rometerschraube kann man verschiedene wirksame 

 Quarzdicken in die Mitte des Gesichtsfeldes führen und dadurch hier jeden beliebigen Gangunterschied 

 hervorbringen. 



Die Distanz zweier dunkler Streifen im Na-Licht, ausgedrückt in Umdrehungen der Mikrometer- 

 schraube, sei 8. Bedeutet n die Höhe eines Schraubenganges in mm, cp den Keilwinkel des Kompensators 

 (Fig. 1), s und ü) die Brechungsexponenten des Quarzes für Na-Licht, \ die Wellenlänge des Na-Lichtes, 

 so ist, da der erste dunkle Streif nach dem Kompensationsstreif dort erscheint, wo die wirksame Quarz- 

 schichte einen Gangunterschied von einer Wellenlänge hervorruft, 



M§2 tang (p(s— w) = \. 



Von den hier vorkommenden Größen ist 8 gemessen, X^O' 0005896; somit kann das Aggregat 

 2/i tang (p(s — (ü) berechnet werden. Diese Größe, welche ich mit C bezeichnen will, ändert sich etwas mit 

 der Wellenlänge des angewandten Lichtes. Entnimmt man auch (s—w) den physikalischen Tabellen 

 (0"0091), so laß: sich auch die eigentliche Instrumentkonstante 



Cq = 2ii tang cp 

 berechnen, welche unabhängig von der Lichtsorte in jede Beobachtung eingeht. 



Wenn die Dispersion der Doppelbrechung vernachlässigt werden kann, wie das bei der Beobachtung 

 an Dünnschliffen die Regel ist, so kann die Konstante C, die eigentlich nur für Na-Licht gilt, .auch bei 

 der Berechnung von Beobachtungen in weißem Licht angewendet werden. Wie eine kurze Berechnung 

 lehrt, ist der Fehler, den man begeht, kleiner als ein halbes Prozent. 



Schaltet man zwischen gekreuzten Nicols unter dem auf die Ruhelage eingestellten Kompensator 

 eine doppelbrechende Platte in Diagonalstellung ein, so wird der Kompensationsstreif verschoben. Durch 

 Drehen der Mikrometerschraube kann der Kompensationsstreif in die Mitte des Gesichtsfeldes zurück- 

 gebracht werden. Ist / die Zahl der hiezu erforderlichen Schraubenumdrehungen, so wird in den Gang 

 des Lichtes eine wirksame Quarzschichte gebracht, deren Gangunterschied /X C gleich und entgegen- 

 gesetzt ist dem Gangunterschied der zu prüfenden Platte. Dieser ist seinerseits gleich der Dicke derselben 

 d multipliziert mit der Differenz der Brechungsexponenten, die für die beiden die Platte durchsetzenden 

 Wellen gelten (y — a). 



Ist die Dicke der Platte bestimmt, so sind in der Gleichung l.C^d{'( — a) alle Stücke bis auf 

 (Y — a) bekannt, welches berechnet werden kann 



, . IC 

 a 



Statt die Verschiebung des Kompensationsstreifs von der Ruhelage aus zu messen, ist es zweck- 

 mäßiger, die zu prüfende Platte nach einander in zwei um 90° verschiedene Diagonalstellungen zu 

 bringen. Der Abstand der einmal nach links oben, einmal nach rechts unten verschobenen Kompensations- 

 streifen ist dann gleich 21. Zur Vermeidung toten Ganges ist es gut, sich beiden Einstellungen durch 

 Drehen der Schraube im selben Sinne zu nähern. 



Schwierigkeiten verursachen bei der Ermittlung der Stärke der Doppelbrechung starke Absorptions- 

 unterschiede, die die Deutlichkeit der Interferenzstreifen außerordentlich beeinträchtigen. Dann lassen sich 

 brauchbare Beobachtungen nur in sehr dünnen Schnitten machen (dunkle Hornblenden, Biotit). 



Mitunter ist die Erkennung des Kompensationsstreifens bei stärkerer Dispersion der Doppelbrechung 

 nicht ganz leicht. Man prüfe dann zuerst sehr dünne Stellen des Durchschnittes, wie sie öfter an aus- 

 keilenden Rändern gegeben sind. Hier läßt sich bisweilen das Kompensationsgrau erkennen. Beim Vor- 

 schieben des Keils wandert der graue Streifen einwärts von dünneren zu dickeren Stellen und man kann 

 ihn dann öfter bis zur Ausbreitung auf der Fläche des Durchschnittes verfolgen, wo er dann lebhafte 



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