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Platte so, wie es die stark ausgezogenen Linien andeuten. Es 

 werden somit von der dem Licht abgewendeten Seite des stärker 

 lichtbrechenden Durchschnittes infolge der Totalreflexion mehr 

 Lichtstrahlen in das Objectiv gelangen als von der dem Lichte 

 zugewendeten. Da das Mikroskop das Bild umkehrt, sieht man 

 jene Seite des stärker lichtbrechenden Durchschnittes, welche 

 dem schief einfallenden Lichte zugekehrt scheint, hell beleuchtet, 

 die gegenüberliegende beschattet. Hält man die Richtung des 

 einfallenden Lichtes fest, so scheint sich der stärker licht- 

 brechende Durchschnitt plastisch von der schwächer licht- 

 brechenden Umgebung abzuheben; umgekehrt erscheinen 

 schwächer lichtbrechende Durchschnitte wie Löcher im Prä- 

 parat. 



Diese Erscheinung wird umso leichter beobachtet, je ge- 

 ringer die Apertur des Objectivs ist, da hier der Unterschied in 

 der Beleuchtung hauptsächlich von den totalreflectirten Strahlen 

 herrührt, die einen kleinen Winkel mit der Axe des Mikroskops 

 einschliessen. 



Die schiefe Beleuchtung kann an den Instrumenten von 

 Fuess leicht durch seitliche Verschiebung der Irisblende 

 erzeugt werden; selbstverständlich kann auch der Abb e'sche 

 Beleuchtungsapparat hiezu dienen, doch ist dessen Anwendung 

 nicht bei allen Mikroskopen mit polarisirtem Licht combinirbar. 



Denselben Effect wie die schiefe Beleuchtung hat auch 

 die Abbiendung der Randstrahlen gemäss dem Principe von 

 Toepler's Schlierenbeobachtung, wie sie beispielsweise das 

 Mikrorefractometer von S. Exner gestattet. 1 



Welcher von diesen Beobachtungsmethoden man den Vor- 

 zug einräumen will, wird wohl Sache der subjectiven Wahl 

 bleiben. Ich wende häufig alle an, um eine gegenseitige Con- 

 trole zu haben. 



Die Unterschiede, die sich mittelst dieser Beobachtungs- 

 methoden noch wahrnehmen lassen, sind in der That sehr 

 klein. Wenn beispielsweise zwei Quarzdurchschnitte mit an- 

 nähernd unter 90° gekreuzten Hauptaxen verwachsen sind, so 





1 S. Exner. »Ein Mikrorefractometer«. Archiv für mikroskopische Ana- 

 tomie, 25, 1885, S. 97. 



