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Verhandlungen. 



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hinlänglich genauen Resultaten zu gelangen, aber eine einfache 

 Betrachtung lehrt, dass hei Anwendung dieses Verfahrens nahezu 

 jeder gewünschte Grad von Genauigkeit erreicht werden kann, 

 jedenfalls aber in Bezug auf das Percentverhältniss der Mineral- 

 bestandtheile bei zielbewusster Anwendung fast dieselbe Genauig- 

 keit, als sie beispielsweise die Bauschanalyse abgeschlagener Splitter 

 in Bezug auf die allgemeine chemische Constitution des Gesteines 

 zu bieten vermag. 



Es ist leicht einzusehen, dass der Genauigkeitsgrad direct 

 proportional der Länge der gewählten Mengen-Indicatrix und umgekehrt 

 proportional der Korngrösse des Gesteines sein inuss. Unter der Voraus- 

 setzung einer möglichst gieichmässigen Verkeilung und Korngrösse 

 der Bestandminerale im Gesteine werden wir also für eine auf 

 1 Procent genaue Messung mindestens eine Gesammtlänge der 



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Indicatrix gleich der hundertfachen Korngrösse wählen müssen 

 und bei nicht einwandfrei gleichmässiger Vertheilung jedenfalls 

 mehrere in verschiedenen Ebenen eines Parallelopipeds (Würfels; 

 gelegenen Indicatricen zur Vermessung zu bringen haben. Für 

 Schiefergesteine von hoher Parallelstructur genügt ein Bündel weniger 

 paralleler, in einer zur Schieferung annähernd senkrecht stehenden 

 Schliffebene gelegener Mengenlinien u. s. w. 



Es soll nun an einer Reihe von Beispielen gezeigt werden, in 

 welcher Art die Ausführung der geschilderten Methode vorgenommen 

 wird, und welche unmittelbaren Nutzanwendungen sie gestattet. 



1. Um eine Controlle der erreichbaren Genauigkeit zu erhalten, 

 läge zuerst die Aufgabe vor, ein genau bekanntes Fläehenverhältniss 

 mit Hilfe der geschilderten Mengenmessung zu bestimmen. 



Die in obiger Figur 1 dargestellte Fläche von 5 X 10 = 50 cni 2 

 enthält in beliebiger Vertheilung gezeichnete 10 Quadrate von 1 cm 2 





