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§ 195. Bezüglich der Eich tun g der Zeichen ebene leuchtet 

 nun wohl zunächst aus Fig. 84 ohne weiters ein, dass dieselbe auf dem 

 Achsenstrahl S A 2 in der gleichen Weise senkrecht stehen muss, wie die 

 Bildebene B x (j t auf dem Strahle S A t . Denn wenn die Zeichenebene 

 mit dieser Senkrechten z. B. den Winkel B 2 A 2 B 3 bildete und also in 

 die Ebene B 3 C 3 fiele, so würde ja offenbar, ganz abgesehen von der 

 unvollkommeneren Strahlenvereinigung, eine gewisse Verzerrung des 

 mikroskopischen Bildes eintreten müssen. Während nämlich die Ent- 

 fernung A, C t im mikroskopischen Bilde gleich Ai B : , würde in der 

 Zeichnung offenbar A 2 B 3 kleiner sein als A 2 C 3 . 



Aus dem gleichen Grunde muss nun aber auch nach der bei den 

 meisten Zeichenapparaten stattfindenden zweimaligen Spiegelung 

 die Zeichenebene auf dem axialen Strahle senkrecht stehen, und es fragt 

 sich nun, welche Sichtung dieser Strahl besitzt, wenn Avir die Neigung 

 der beiden spiegelnden Flächen variieren lassen. 



Nehmen wir nun einmal an, die erste spiegelnde Fläche (S, S,, 

 Fig. 85) wäre unter einem Winkel x gegen die Verticale B C geneigt 



Fig. 85. 



und es bilde ferner die zweite spiegelnde Fläche (S 2 S 2 ) mit der ersten 

 den Winkel A, D A 2 == o. Der Winkel (F A 2 J), den die Sichtung der 

 zweiten spiegelnden Fläche (D J) mit der Veiticalen G F bildet, ist dann 

 offenbar = x -f- o. Es folgt dies z. B. daraus, dass der gleiche Winkel 



