RASTEREIGENSCHAFTEN DES KOMPLEXAUGES VON CATAGLYPHIS BICOLOR 727 



irekt ausgemessen (Vergrôsserung der Schnittbilder 850—950 x). Gleichzeitig 

 jssen sich an denselben Schnitten der KrUmmungsradius r und der Abstand c der 



Abb. 4. 



:>tereoscan-Aufsicht auf ein rechtes Komplexauge (1273 Ommatidien) von Cataglyphis bicolor. 

 h y, z, Schnittebenen fur die Divergenzwinkel-Messungen. Die Ebenen verbinden die optischen 

 j^chsen benachbarter Ommatidien. D, dorsal; E, extern (latéral); I, intern (médian) ; V, ventral. 



^acettenmittelpunkte bestimmen. Aus diesen beiden Werten ergibt sich der 

 Divergenzwinkel rechnerisch nach der Gleichung tg (Acp/2) = c/2 r. Das gleiche 

 v^erfahren kann auch bei rasterelektronenmikroskopischen Aufnahmen (Stereos- 

 :an Typ Cambridge; Gesemtvergrosserung 710—1050 X fiir c und 125—325 x 

 ur r, s. Abb. 5 und 6) angewandt werden und fiihrt bei exakter Bestimmung der 



