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die axiale Vertikalebene. Dreht man nun den Krystall, so muss 

 bei genauer Centrirung Faden und Krystallkante in steter Deckung 

 bleiben. Kleinere Correkturen sind unter dem Mikroskop leicht 

 auszuführen. 



Es erfolgt nunmehr die eigentliche Messung, wobei die 

 Schraube H, am unteren Schlitten, festgezogen wird, so dass das 

 Mikroskop nur noch vertikal zur Kreisaxe verschiebbar bleibt. 



Die zu messende Kante k sei gebildet durch die Flächen 

 F und G, die anderseits von den tautozonalen Kanten h, i be- 

 grenzt werden. 



Nachdem das Mikroskop auf die der Kante k zunächst lie- 

 genden Theile der Fläche Gl genau eingestellt ist , schiebt man 

 dasselbe über die Fläche G hin und dreht nunmehr den Krystall, 

 bis auch die, der Kante i zunächst liegenden Flächentheile ein 

 scharfes Bild geben. Ist auf diese "Weise, eventuell unter Wie- 

 derholung des Verfahrens, die Fläche G genau fixirt, so wird der 

 Krystall mittelst der Kreisaxe des Goniometers gedreht, bis auch 

 die Fläche F, in gleicher Weise, genau eingestellt ist. Der am 

 Goniometer ablesbare Drehungswinkel ist der Supplementwinkel 

 der zu messenden Kante. 



Um die Genauigkeit der Messung zu erörtern, nehmen wir 

 an, dass der maximale Fehler der mikroskopischen Einstellung, 

 je nach der Beschaffenheit der Krystallfläche, 0,004 bis 0,012 mm 

 betrage (siehe oben). Für jede Messung bedarf es zweier Ein- 

 stellungen. Den ungünstigsten Fall vorausgesetzt, dass nämlich 

 beide Fehler sich summirten, würde die maximale Ungenauigkeit 



