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3) Auch Krystalle mit regelmässig gekörnten, gestreiften 

 oder polyedrischen Flächen sind messbar. Man stellt das Mikro- 

 skop auf die Vertiefungen oder Erhabenheiten ein, je nachdem 

 man sich überzeugt hat, dass die einen oder anderen in einer 

 Ebene liegen (siehe Anm. 1). 



4) Da die Krystallflächen, je nach ihrer Beschaffenheit, eine 

 verschiedene Genauigkeit der mikroskopischen Einstellung gestat- 

 ten, so ist es von Interesse, den Grad derselben in jedem einzel- 

 nen Falle, mit Hilfe der Mikrometertheilung F festzustellen. Be- 

 stimmt man alsdann die Breite der Krystallflächen am Mass- 

 stab G, so lässt sich aus diesen beiden Faktoren der maximale 

 Fehler der Winkelmessung berechnen. Unter sonst gleichen Be- 

 dingungen werden daher schmale Krystallflächen ein weniger ge- 

 naues Kesultat liefern, als solche von grösserer Ausdehnung, wie 

 andererseits durchsichtige Krystalle eine präcisere mikroskopische 

 Einstellung gestatten, als opake. 



Im nächsten Heft soll eine Auswahl, mit dem Mikroskop- 

 Goniometer ausgeführter Messungen mitgetheilt werden. 



