Kristallographie. Krystallphysik. Mineralchemie. 211 



Bekanntlich lässt sich der Brechungsexponent eines mikroskopischen 

 Objectes messen durch Vergleichung mit einer Flüssigkeit von gleicher 

 Brechbarkeit, in welcher die Umrisse des Objectes unter dem Mikroskop 

 verschwinden. Schon bei isotropen Körpern ist es umständlich, eine passende 

 Flüssigkeit herzustellen und auszusuchen, bedeutend umständlicher aber bei 

 Krystallen, wo man zwei derartige Flüssigkeiten braucht, entsprechend der 

 verschiedenen Brechbarkeit der aus dem Plättchen austretenden Strahlen. 

 Die Schwierigkeit wird geringer (und die Genauigkeit wahrscheinlich 

 grösser), wenn man, wie der Verf. vorschlägt, eine Flüssigkeit wählt, deren 

 Brechungsexponent zwischen dem grössten und dem kleinsten Werthe der 

 Brechungsexponenten des Krystalles liegt. Beobachtet man über einem 

 NicoL'schen Prisma, dessen Polarisationsebene man nach einander in die 

 Richtung des grössten und des kleinsten Brechungsexponenten stellt, so 

 wird das Object nicht verschwinden, sondern das eine Mal dichter, das 

 andere Mal dünner erscheinen als das umgebende Medium. Dagegen wird 

 es zwischen beiden Stellungen ein Azimuth geben, in dem ein vollständiges 

 Verschwinden der Umrisse eintritt. Man stellt dann noch andere Flüssig- 

 keiten her, deren Brechungsexponenten gleichfalls zwischen dem grössten 

 und kleinsten Werthe der Brechungsexponenten des Krystallblättchens 

 liegen und bestimmt auch für diese die Azimuthe, in denen ein Verschwinden 

 der Umrisse eintritt. Aus 2 solchen Winkelmessungen und den Brechungs- 

 exponenten der zugehörigen Flüssigkeiten lässt sich der gesuchte grösste 

 und kleinste Werth des Brechungsexponenten im Krystallblättchen leicht 

 durch Rechnung ermitteln. 



Beobachtungen sind nicht mitgetheilt, weil sie (wegen Uligenauigkeit 

 der Winkelmessungen) bisher nicht befriedigend ausgefallen sind. 



A. Sommerfeld. 



Georges Friedel: Sur un procede de mesure des bire- 

 fringents. (Bull. soc. franc. de min. 1893. XVI. p. 19—33 und Compt. 

 rend. 6. Febr. 1893. t. CXVI. p. 272—274.) 



Lässt man elliptisch polarisirtes monochromatisches Licht auf eine 

 Krystallplatte so fallen, dass die grosse und kleine Axe a und b der Ellipse 

 45° zu den Schwingungsrichtungen x und y der Platte geneigt sind , so 

 wird sich die elliptische Schwingung beim Eintritt in die Krystallplatte 

 in zwei geradlinige zerlegen, deren Phasendifferenz \Jj nur von dem Ver- 

 hältniss a : b abhängt. Bewirkt die Krystallplatte eine Phasendifferenz 



— xp, so ist die austretende Schwingung wieder geradlinig // b, der Winkel 

 halbirenden von x und y und kann also durch ein Nicol // b vollständig 

 ausgelöscht werden. Um eine passende Phasendifferenz \p des in den 

 Krystall eintretenden elliptisch polarisirten Lichtes zu erhalten, genügt es, 

 unter dem Krystall ein \ Undulationsplättchen einzuschalten, dessen Haupt- 

 schnitte // a und b liegen, und den Winkel q> der Schwingungsebene des 

 einfallenden polarisirten Lichtes mit a zu variiren, bis die Phasendifferenz 



— xp wird. Es sind alsdann die Axen der Ellipse des auf die Krystall- 

 platte fallenden Lichtes 



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