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Mineralogie. 



a = A . V"2 . sin n . xp, b = A . V 2 . cos u . xp, 



also tg cp = tg n . xp. 

 Der die ganzen Wellenlängen übersteigende Bruchtheil der Phasen- 

 differenz xp ist also gleich cp, ausgedrückt als Bruchtheil von 180°, 



* = *- x + m 



n ist durch Beobachtung der Höhe der Interferenzfarben, wenn die 

 Krystallplatte dünn ist, oder durch Anwendung des Quarzkeils oder durch 

 Schleifen einer keilförmigen Krystallplatte etc. leicht zu ermitteln. — Zur 

 richtigen Bestimmung von xp ist darauf zu achten, dass der Winkel von 

 45° zwischen der positiven Richtung im Krystall und der positiven 

 Richtung des \ Undulationsplättchens in demselben Sinne gezählt wird, wie 

 der Winkel cp. Würde man cp im entgegengesetzten Sinne zählen, so wäre 



xp = n -j- 1 — Ist cp am Polarisator nur schlecht zu bestimmen , so 



kann man das % Undulationsplättchen über der Krystallplatte anbringen 

 und den Analysator bis zur Dunkelstellung um cp drehen. Man kann 

 auch die Drehung der Nicols ganz vermeiden und statt dessen nur den 

 Tisch mit der Krystallplatte und überlagernder \ Undulationsplatte drehen, 

 wenn man in letztere durch ein \ Undulationsplättchen , dessen Haupt- 

 schnitte 45° zu den Nicols neigen, circular-polarisirtes Licht einfallen lässt. 



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Es ist dann cp — n . xp + — , je nach der Lage der positiven Richtungen 

 der drei Platten. 



Bei dem ersten Verfahren ist die Intensität des aus dem Krystall 

 tretenden Lichtes 



A 2 



« 2 = — (1-cos 2 (y— n. xp)), 



die Helligkeit im übrigen Gesichtsfeld dagegen 



cc 2 1 = A 2 . sin 2 cp ; 

 beide werden gleich für einen Werth cp, der bestimmt ist durch 



cp x — 7i . xp = + cp x -j- n . n, 

 d. h. einmal in dem besonderen Falle, dass xp = n . A ist, für cp = o ; ausserdem 

 für 2cp t = n .xp — cp, d. h. Präparat und Gesichtsfeld werden unter den ge- 

 nannten Bedingungen gleich hell sein nach Drehung um denselben Winkel cp. 



(Bei Anwendung der zwei \ Undulationsplättchen wird cp x — + ~). Man 



kann also cp durch Einstellung auf gleiche Helligkeit von Präparat und 

 Gesichtsfeld controliren, wenn das Mineral am Rande des Schliffes oder 

 allein im Gesichtsfeld liegt und farblos durchsichtig ist. Ausserdem kann 

 man cp controlliren dadurch, dass man (beim ersten Falle) auch die Com- 

 plementwinkel von cp bestimmt. 



Fehlergrössen: 1) Sind alle übrigen Bedingungen genau erfüllt, so 

 bewirkt beim ersten und zweiten Verfahren ein Einstellungsfehler von cp 



