Kristallographie. Kristallphysik. Kristallchemie etc. 



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der mit einer GEissLER'schen Wasserstoffvakuumröhre ausgestattet ist. 

 Besonders wird der Elastizitätsapparat selbst geschildert, der aus drei 

 Hauptteilen besteht, nämlich : den Keilkanten (Schneiden) , gegen die die 

 Platte der Substanz zu biegen ist, nebst deren Lager ; einer empfindlichen 

 Wage, an der durch eine Achatspitze an einem Ende ihres Balkens das 

 die Biegung hervorbringende Gewicht wirkt, und ein Apparat für die 

 Kontrolle seiner Wirkung ; endlich ein Messungsmikroskop , das die Ab- 

 lesung von Tausendsteln eines Millimeters in zwei aufeinander senkrechten 

 Richtungen gestattet. Besondere Abschnitte sind gewidmet den Schneiden 

 und ihren Lagern, dem Interferenzdreifuß, der Transmissionsvorrichtung. 

 •den mechanischen „Fingern" und Hilfsschrauben für die Justierung der 

 Platte, dem Messungsmikroskop, der Wage, den Belastungsgewichten und 

 der Kontrollvorrichtung. Zum Schluß faßt Verf. die Hauptvorteile seines 

 Elastizitätsapparats vor dem älteren Apparat von Koch in folgenden 

 Worten zusammen: 



1. Der Gebrauch des vom Verf. konstruierten Interferometers er- 

 möglicht, daß man streng monochromatisches C- Wasserstofflicht anwenden 

 iann anstatt des Natriumlichtes, dessen den zwei D-Linien entsprechende 

 Lichtstrahlen einer störenden gegenseitigen (sekundären) Interferenz unter- 

 worfen sind. Der Gebrauch der Methode der Autokollimation versichert 

 auch größere Intensität und Parallelismus der beleuchtenden und reflek- 

 tierten Strahlen und folglich höhere Vollkommenheit der Interferenz. Auch 

 ist die mikrometrische Methode eine von der höchsten Bequemlichkeit. 



2. Der Transmissiousapparat ist ganz unabhängig von der Natur der 

 Oberfläche der zu untersuchenden Platte. Also existiert die Frage des 

 Gebrauchs einer verkitteten Glasplatte bei nichtpoiierbaren Substanzen 

 nicht. Außerdem wird die Veränderung der Streifengestalt vermieden, 

 welche durch Veränderung der Kurvatur der Plattenoberfläche bei der 

 Biegung verursacht wird; und es werden immer vortreffliche geradlinige 

 Streifen erhalten, welche bequem für die Justierung zwischen einem Paar 

 paralleler mikrometrischer Spinnfäden sind, denn dieselben ausgewählten 

 reflektierenden Oberflächen werden immer wieder verwendet. 



3. Die empfindliche Methode einer empfindlichen chemischen Wage 

 für die Anlegung des Belastungsgewichtes bietet augenscheinliche Vorteile 

 dar, z. B. größere Dichtheit des gesammten Apparates, welcher ganz auf 

 dem Tische liegt, anstatt teils über, teils unter dem Tische. 



4. Die Kontrolle der Gewichtsverlegung und folglich der Schnelligkeit 

 des Streifenvorübergangs ist bequemer und besser erreichbar. 



5. Das Messungsmikroskop ist ganz für die Bestimmung der Platten- 

 größe und ihre Justierung vorbehalten , anstatt auch für den Gebrauch 

 bei den Streifenbeobachtungen. Auch wird größere Genauigkeit bei der 

 Messung erhalten durch die neue Methode für das Fortschaffen jedes toten 

 Ganges bei den beiden Messungsschrauben. 



6. Der Irrtum, welcher durch eine Bewegung der die Platte unter- 

 stützenden Lager in bezug auf die zweite reflektierende Oberfläche ver- 

 schuldet wird, wird sehr beträchtlich vermindert ; denn die diese Oberfläche 



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