Krystallographie. Krystallphysik. Pseudomorphosen. - 163 - 



C. Leiss: Neues Krystallr efractometer zur Bestimmung 

 grösserer und mikroskopisch kleiner Objecte. (Zeitschr. f. In- 

 strumentenk. 22. p. 331—334. 6 Fig. 1902.) 



Im Vergleich zu dem früher von C. Klein beschriebenen Krystall- 

 refractometer (vergl. dies. Jahrb. 1900. II. -385-), welches mit einem 

 feststehenden Mikroskop und einem Fernrohr ausgestattet war, weist das 

 neue Instrument eine wesentliche Vereinfachung auf, indem es nur ein 

 einziges als Mikroskop und Fernrohr benutzbares Beobachtungsrohr besitzt. 

 Durch Vorschalten einer Loupe (ähnlich wie bei Goniometern) kann man 

 ohne jegliche weitere Veränderung von Fernrohrbeobachtungen zu mikro- 

 skopischen übergehen und das Präparat nicht nur im auffallenden, sondern 

 auch in dem durch die ABBE'sche Halbkugel und das Präparat hindurch- 

 gehenden Lichte betrachten. B. Sommerfeldt. 



O. Schönrock: Theoretische Bestimmung des Axen- 

 fehlers von Krystallplatten. (Zeitschr. f. Instrumentenk. 22. 1902. 

 p. 1-14.) 



Der Axenfehler v bei Platten einaxiger Krystalle, die annähernd 

 senkrecht zur optischen Axe geschnitten sind, d. h. der Richtungsunter- 

 schied von Plattennormale und optischer Axe lässt sich aus folgender 

 Formel berechnen, in welcher b den Badius des Kreises bedeutet, den der 

 Schnittpunkt der schwarzen Balken bei Drehung der Platte in ihrer eigenen 

 Ebene beschreibt, und wenn f die Brennweite des Objectives n der ordent- 

 liche Brechungsexponent der Platte für das verwendete homogene Licht ist : 



_ _b_ 

 V ~ f n o ' 



Diese Formel ist bei den durch Drehungsvermögen der Polarisations- 

 ebene ausgezeichneten Substanzen praktisch unanwendbar; statt des Schnitt- 

 punktes der Balken muss hier ein Interferenzring beobachtet und das 

 Wandern derselben verfolgt werden. Für diesen Fall entwickelt Verf. eine 

 analoge Formel, die aber nur bei Vernachlässigung der höheren Potenzen 

 von v eine einfache Gestalt annimmt und alsdann (so lange v etwa kleiner 

 als 1° ist) mit genügender Genauigkeit gilt. Die Methode des Verf.'s 

 gestattet gleichzeitig die Bestimmung der Differenz der Brechungs- 

 exponenten n e — n Q bei der nämlichen Versuchsanordnung, und zwar hat 

 Verf. bis auf 0,1 °/ richtige Werthe für diese Differenz bei Quarz 

 erhalten. 



Sowohl für diese Messungen, als auch für die Axenfehlermessungen 

 selbst wurde ein das GuMLicH'sche Constructionsprincip benutzender Unter- 

 suchungsapparat verwandt, wie er in ähnlicher, jedoch nur für dickere 

 Platten genügend genauer Ausführung seit 1898 in der physikalisch-tech- 

 nischen Reichsanstalt zur Prüfung von Saccharimetern im Gebrauch ist 

 (vergl. auch das folgende Ref.). E. Sommerfeldt. 



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