— 166 — 



H. Dufet: Sur uu nouveau microscope polarisaut. iBiüL 

 SOG. franc. de min. t. IX. 1886. p. 275—281 und J^ui'nal de physique 1886. 

 p. 564.) ^ 



Das Instrument soll als Axeiiwinkel-Apparat, Total-Eeflectometer und 

 Goniometer dienen. Der Axenwinkel- Apparat ist im Ganzen dem von 

 Liebisch (dies. Jahrb. 1885. I. p. 180 if.) beschriebenen ähnlich. Das reelle 

 Bild der Interferenzcurven der zwischen den Convergenz-Linseu befindlichen 

 Platte (etwa von der Dicke der in Turmalinzangen brauchbaren) wird diu'ch 

 ein schwaches Mikroskop betrachtet ; in demselben erscheint zugleich ein 

 durch ein System von 5 Piismen entworfenes direkt gesehenes Spectrum^ 

 dessen einzelne Theile durch eine Mikrometerschraube in das Gesichtsfeld 

 geführt werden können. Es gelingt so eine Dispersion der optischen Axen 

 von wenigen Minuten zu messen. Die Centrirung der Platte geschieht 

 mittelst Schlitten, die Justirung so wie bei den älteren sog. Universal- 

 apparaten : der Theilkreis liefert 20", die Messung ist genau auf etwa 1'. 

 Zur Messung von Brechungsexponenten wird die Pincette, welche die Platte 

 trägt, durch eine andere ersetzt, in welcher zwei gleichschenklig-recht- 

 winklige Prismen A^on Flintglas befestigt sind, von welchen das eine fest^ 

 das andere um eine horizontale Axe so beweglich ist, dass planparallele 

 Platten von mittleren Dicken fest zwischen die Hypothenusenflächen gelegt 

 werden können; die Berührung wird durch eine stark brechende Flüssig- 

 keit erhöht: die Messung geschieht wie gewöhnlich durch Einstellung auf 

 die Grenze der Total-Eeflexion bei Beleuchtung von beiden Seiten. Die 

 Justirung der Prismen geschieht durch Einstellung einer weit entfernten 

 reflectirten Lichtquelle : eventuell sind kleine Fehler durch Ermittlung der 

 Fehler von Quarz- und Flussspath-Platten mit bekannten Brechimgsexpo- 

 nenten auszugleichen. Die beiden Prismen kann man auch statt des Öl- 

 bades anwenden um grosse Axenwinkel zu messen, man bringt dann die 

 Platte so wie zur Messung der Total-Eeflexion zwischen die Hypotheuusen- 

 Flächen der beiden Prismen. O. Mügge. 



Aug. Nies: Über polaren Magnetismus an Kry st allen. 

 (Ber. über die 19. Versamml. des oberrhein. geolog. Vereins.) 



Der Verf. hat angefangen, Kry stalle von Eisenglanz und Magneteisen 

 auf ihre magnetische Beschaffenheit und besonders die Lage der magne- 

 tischen Axen untersucht. Alle Titan-haltigen Eisenglanze sind polar- 

 magnetisch, aber schwach und verhalten sich daher gegen starke Magnet- 

 nadeln wie schwache Magnete überhaupt, d. h. jede Stelle bewirkt in Folge 

 von Induktionsvorgängen die Anziehung beider Pole der starken Nadel. 

 An Kokonfäden aufgehängt zeigen die Eisenglanzkrystalle wie polarische 

 Magnete eine bestimmte Orientirung. Die magnetischen Axen schienen 

 dem Verf in der Ebene der Nebenaxen zu liegen, während Ttndall eine 

 solche in der Eichtung der Hauptaxe angab. An einem Oktaeder von 

 3Iagneteisen ergaben vier Flächen Anziehung, die vier anderen Abstossung ; 

 dabei war nur eine magnetische Axe vorhanden, welche aber mit keiner 

 krystallographischen Axe vollkommen, sondern mit einer derselben nur an- 



