Kristallographie. Kristallstruktur. 



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F. Canac: Determination de i'orieutation des rangees 

 et des p 1 a n s reticulaires d'an cr.istal. (C. R. Paris. 170. 

 1920. 113—116.) 



Verf. beschreibt hier eine schon seit 1913 von ihm benutzte Methode., 

 um aus einem beliebigen Beugungsfleck eines Lauediagrammes in einfacher 

 Weise die zugehörige Gitterebene aufzufinden. Zu diesem Zweck läßt 

 man ein paralleles Bündel „weißen" Röntgenlichtes unter einer geringen 

 Neigung gegen die zu untersuchende Gitterlinie im Kristall auffallen. 

 Diese Gittergerade kann als Zonenachse angesehen werden. Alle Gitter - 

 ebenen dieser Zone liefern reflektierte Strahlen, die jeweils auf einem mit 

 der Neigung des Primärstrahles zur Zonenachse veränderlichen Kreiskegel 

 liegen. Der Primärstrahl selbst ist eine Erzeugende des Kegels. Beim 

 Auffangen auf einer photographischen Platte senkrecht zur Zonenachse 

 gibt jeder reflektierte Strahl einen auf dem Schnittkreis liegenden Reflex. 

 Die Spur der entsprechenden Netzebene wird als Lot vom Kreismittelpunkt 

 auf die Verbindungslinie des Pnmärstrahleinstiches mit dem Reflexpunkt 

 oder auch als Verbindungslinie desselben mit dem zum Primärfleck diametral 

 gelegenen Punkt erhalten. Wenn jetzt der Kristall um eine zur Ebene 

 durch die Zonenachse und den Primärstrahl senkrechte Achse gedreht 

 wird, so deformiert sich der Kreis kontinuierlich und verschwindet schließlich, 

 wenn die Zonenachse dem Primärstrahlbündel parallel läuft. Jeder Reflex- 

 punkt beschreibt bei der Drehung eine Lemniskate auf der photographischen 

 Platte, die man stets senkrecht zur Zonenachse stellt. Die analytische 

 Formulierung wird abgeleitet. Verf. gibt schließlich noch einige Folge- 

 rungen bezüglich der Form der Flecken. Schiebold. 



F. Canac : Determination des a x e s de s y m e t r i e d ' u n 

 cristal cubique. (CR. Paris. 170. 1920. 276—278.) 



Bezugnehmend auf die vorher referierte Abhandlung wird hier die 

 Fleckenverteilung bei Durchstrahlung eines isometrischen Kristalls nahezu 

 in Richtungen wichtiger Zonenachsen theoretisch untersucht, wobei die 

 Drehung jeweils um eine 4, 3 oder 2zählige S-Achse erfolgt. So ist bei- 

 spielsweise das Diagramm bei Durchleuchtung nahezu // [001] und Drehung 

 um [100] folgendermaßen beschaffen : Auf einem durch den Primärfleck 

 gehenden Kreis liegt diesem diametral gegenüber der Reflex von (010), 

 in der Vertikalen oben und unten die Reflexe von (110) und (HO), und 

 in symmetrischer Anordnung links und rechts davon die von (210) (2T0) 

 (120) (120) usw., wobei vorausgesetzt wird, daß die Intensität der Flecken 

 der Netzdichte proportional ist. Auf Grund dieser Bemerkungen sind die 

 anderen vom Verf. angegebenen Schemata leicht zu konstruieren. Sie 

 sollen nach seiner Ansicht zur schnellen Orientierung des Kristalles, sowie 

 zur Kennzeichnung des Kristallsystems besonders von Nutzen sein. [Es 

 scheint dem Ref., daß diese Methode gegenüber den in der üblichen 



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