Mineralphysik; Instrumente. 



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in Bezug auf die Intensität asymmetrisch gebaut, mit dem Primärfleck zut 

 gewandten Intensitätsmaximum. Für Intensitätsmessungen ist nur Typ 1 

 geeignet, für Indizesbestimmungen kann auch Typ 2 benutzt werden. Es gilt : 

 I. Für Typ 1. 



z — Abstand von der Primärfleckmitte zum Mittelpunkt des 



maximalen Schwärzungsfeldes im Beugungsfleck, 

 p = Abstand der Kristallmittelebene von der photographi sehen 

 Schicht. 

 II. Für Typ 2. 



z = Abstand vom Pi imärfleckrand zum Punkt maximaler Schwär- 

 zung im Beugungsflecken (in radialer Richtung vom Beugungs- 

 bikl zur Primärfleckmitte), 

 p = Abstand der der photographischen Platte zugekehrten Kri- 

 stalluberfläche von der lichtempfindlichen Schicht. 

 Schließlich werden auch Unregelmäßigkeiten im Sckwärzungsfeld 

 (Streifensysteme usw.) in Betracht gezogen und auf Anomalien im Kristall- 

 bau zurückgefühlt. P. Nig-gli. 



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