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spettro come il silicio, e raramente un elemento ha mostrato cosi diversi 

 risultati tra le osservazioni di diversi osservatori » , e aggiungeva : « Stu- 

 diando le linee in una regione particolare dello spettro del silìcio, fui 

 sorpreso nel riscontrare che linee date dal mio spettroscopio non coinci- 

 devano pienamente con linee trovate nella stessa zona da altri osservatori, 

 poiché alcune erano interamente assenti, mentre la lunghezza d'onda di 

 altre non corrispondeva ìlei limiti ammissibili dell'errore di osservazione. 

 La causa di alcune di queste divergenze venne rintracciata nei campioni 

 di silicio usati da me e da altri ». 



Ho voluto citare le parole testuali del grande scienziato recentemente 

 scomparso, perchè le sue osservazioni, riferendosi ad oltre 11 anni di esperi- 

 menti, hanno grandissimo valore; tali osservazioni indicano che soltanto- 

 alcune delle divergenze sono imputabili ad impurezze, cosa non difficile- 

 quando, come Crookes ed altri avevano fatto, si parta da silicio elementare. 

 D'altra parte però le osservazioni stesse mostrano che non vi è da stupirsi 

 se nuovi risultati possano venire ottenuti in riguardo alle manifestazioni 

 spettrali del silicio. 



Non è scopo del presente lavoro occuparmi dello spettro di scintilla, 

 che appunto Crookes ha studiato, nè dello spettro di righe, ma, come ho 

 accennato, delle bande che compaiono insieme alle righe nello spettro d'arco 

 del silicio; tuttavia voglio incidentalmente mettere in rilievo che sin dal 1911 

 io ho eseguito uno studio sullo spettro del silicio, partendo da fluoruro e 

 cloruro di silicio in tubo di Geissler ( 1 ). 



In tale lavoro io ho esteso le osservazioni nella regione da 6400 a 3200 

 unità Angstròm, riuscendo a controllare i risultati di precedenti osservatori, 

 a misurare più esattamente righe già conosciute e a trovarne diverse di nuove 

 nella regione giallo verde dello spettro, fino ad allora pochissimo studiata. 

 Ho avuto la soddisfazione di riscontrare che per molte righe le lunghezze 

 d'onda trovate poi da Crookes sono assai vicine alle mie; per altre righe si 

 nota una differenza sostanziale che è probabilmente dovuta al modo di pro- 

 duzione dello spettro, nè questo deve sorprendere data la grande moltepli- 

 cità dello spettro del silicio. 



Infatti Eberhard avendo studiato in 40 condizioni diverse la variazione 

 della intensità delle righe, trovò che per molte di queste la intensità varia 

 da a 10, cioè può assumere qualunque valore ad arbitrio (*). Senza volere 

 qui ricorrere ad altre spiegazioni, basta questa circostanza per comprendere 

 come alcune righe possano anche sfuggire all'osservazione, benché fatta col 

 metodo fotografico, sia perchè sono troppo deboli, sia perchè il tempo di 



l 1 ) Memorie Soc. Spettroscopisti ItaL, I (2). 1912, 2: Gazz. chim. it, 42 (1912),. 

 II, 42. 



(-) Kayser, loc. cit , pag. 488. 



