— 276 — 



Cristallografìa. — Sulla determinatone delle costanti ottiche 

 nei cristalli. Nota di C. Viola, presentata dal Socio Blaserna. 



È noto dai bei lavori di Liebisch (') e Soret ( 2 ), quale via si può se- 

 guire per determinare gli indici principali di rifrazione in un cristallo, sia 

 valendosi del metodo della riflessione totale, sia del metodo della deviazione 

 minima. La determinazione degli assi di simmetria ottica e degli indici prin- 

 cipali di rifrazione della luce riesce completa con due sezioni del cristallo 

 perfettamente arbitrarie. E la determinazióne ne è così completa, che mercè 

 le dette costanti ottiche, riesce contemporaneamente determinato 1' angolo, che 

 fanno fra loro le due sezioni prese in modo arbitrario. 



Dopo Soret, Lavenir ( 3 ) fece vedere in quale maniera sia praticamente 

 determinabile l' orientazione e la grandezza dell' ellissoide di Fresnel con due 

 sezioni del cristallo. In breve, si può dire, che Lavenir si limitò a deter- 

 minare i massimi e i minimi per mezzo delle prime e seconde differenze 

 nella variazione degli indici di rifrazione per raggi paralleli ad un piano, ciò 

 che la teoria ammise come dato. 



Su questa via lavorò Pulfrich ( 4 ) con ottimo successo. L'opera di Walle- 

 rant( 5 ) non diversa in sostanza da quella di Pulfrich, ma indipendente, riuscirà 

 forse più proficua, grazie al materiale ricchissimo, che col metodo di lui sarà 

 messo a disposizione delle esperienze. Ultimamente C. Klein ( 6 ) ha portato un 

 miglioramento notevole al riftettometro totale di Abbe-Pulfrich, mercè il quale 

 l'ideale di ogni petrografo coscienzioso, che voglia dare alle sue determina- 

 zioni un grado di fiducia, sarà vicino a realizzarsi, non meno che col riflet- 

 tometro applicato al microscopio di Wallerant, solo forse raggiungendo una 

 precisione maggiore e in egual tempo. 



(i) Th. Liebisch, Zeitschrift fé Krgstall. 1887, XII, 474. Ges. d. Wiss. zu GOttin- 

 gen. Maggio 1888. 



(*) Ch. Soret, Sur la mesure des indices de réfraction des cristaux a deux axes 

 par Vobservation des angles limite» de réflexion totale sur deux faces quelconques. Compi 

 rend. 1888, 107, 176-178 e 479-482. 



Idem, Sur l'application de réflexion totale à la mesure des indices de réfraction 

 des cristaux à deux axes. Arch. se. ph. nat. Genève 1888. XX, 263-286. 



(?) A. Lavenir, Sur la détermination de V orientation optique dans un cristal quel- 

 conque. Bullettin de la société frane, de miner. Tome XIV, 1891, 100. 



(*) C. Palfrich, Das Totalreflectometer und das Refractometer fur Chemiker etc. 



Leipzig 1890. ' , 



(5) Fréd. Wallerant, Détermination des indices de réfraction des mmeraux des 



roches. Bull, de la soc. frane, de miner., 1897, Tome XX, pag. 234. 



(fi) C. Klein, Die Auwendung der Methode der Totalreflexion in der Petrographie. 



Sitzber. der k. preus. Akad. der Wissenschaften. 1898, XXVI, 317. 



