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Questo modo semplice e direi elegante di determinare T indice di rifra- 

 zione di un corpo isotropo con la sola riflessione, e basato sulla nota rela- 

 zione (1) di Fresnel, può trovare applicazione nei cristalli a uno o a due 

 assi ottici. 



Per dimostrare questo, dovremo ricorrere alle leggi, che reggono il feno- 

 meno della riflessione su piani riflettenti dei cristalli immersi in mezzi iso- 

 tropi. Queste leggi passano, come è noto, sotto il nome di Mac Cullagli ( 1 ). 

 È necessario che noi le esponiamo, sia pure brevemente, prima di passare 

 alle conseguenze utili al nostro scopo. 



FlG. 1. 



Sia ancora i l'angolo di incidenza e di riflessione su un piano riflettente 

 di un cristallo in contatto con un mezzo isotropo rispetto al quale si vuol 

 conoscere gli indici di rifrazione del cristallo. Siano r x e r 2 (fig. 1) ( 2 ) i 

 due angoli di rifrazione corrispondenti, ai quali si riferiscono due piani di 

 polarizzazione facenti con il piano di incidenza jj i rispettivi angoli e # 2 . 

 Si continui a chiamare con q l'angolo di polarizzazione del raggio riflesso 

 e con e quello del raggio incidente rispetto allo stesso piano di incidenza 

 e preso nello stesso senso. 



(>) F. Neumann, Berliner Akademie, Abhandlg., 18S5, pag. 144; Mac Cullagli. On 

 the Lavos of cristalline Reflexion and Refraction, Dublin, Trans. 18 (1837), pag. 51; 

 A. Cornu, Recherches sur la Reflexion cristalline, Ann. Chim. et Phys., Paris, 1867, 

 pag. 283 ; F. Pockels, Lehrb. d. Xristalloptik, 1906, pag. 185. 



( 2 ) Nella figura 1, Z è il polo del piano riflettente, Q, il polo di un'onda rifratta, 

 Q 2 quello dell'altra ed jj rappresenta il piano di incidenza, 



