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mezzo della risoluzione di un elisse come si è fatto per i cristalli a un asse 

 ottico. Anche il piano di incidenza j 3 j 3 mediante il polo c, e così pure il 

 piano di incidenza j\j x mediante il polo a potranno essere utilizzati per lo 

 stesso intento, avendosi così controlli o varie determinazioni degli indici prin- 

 cipali massimo e minimo. In conclusione possiamo affermare che per mezzo 

 della riflessione sopra un piano riflettente qualsiasi di un cristallo e degli 

 azimut di polarizzazione sono determinabili gli indici principali, gli assi 

 ottici e il loro piano di un cristallo a due binormali. 



Casi speciali del piano riflettente. Avremo da considerare specialmente 

 due casi speciali, quando cioè la normale del piano riflettente si trova nel 

 piano degli assi ottici, e in secondo luogo quando essa si trova in uno degli 

 altri due piani principali ottici del cristallo. 



La fig. 3 rappresenta il primo caso. Il polo Z del piano riflettente cade 

 sul cerchio massimo PBAP che rappresenta il piano degli assi ottici, essendo 

 come dianzi A e B i poli delle binormali. 



Chiamando con r a = AZ e r b — BZ, il polo Q (fig. 1) sarà individuato 

 dalla relazione 



sen r\, _ sen y 2 

 sen r b sen <p, ' 



