Untersnchungen über die Hochfiefiuenzspeklra (L Reihe) der Elemente 



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Für die Berechnung des Reflexionswinkels 'f, d. h. des Winkels zwischen dem 

 reflektierten Strahl und der Atomebene des Kristalls, wurde in den Spektrometer- 

 versuchen bei feinem zweiten Spalt und zur Seite geführtem Kristalle eine sog. direkte 

 Linie d aufgenommen. Da die Platte senkrecht zur Verbindungslinie Spaltmitten- 

 Kristalldrehungsachse eingestellt ist, ergibt sich tp aus der Beziehung tg 2^ = - , 



wenn a und r die aufgemesseneu Abstände ad und Kd darstellen. Bei den Ver- 

 suchen mit dem Vakuumspektrographen wurde statt der direkten Linie die Cwj.^- 

 Linie als Referenzlinie benutzt. Nachdem x bestimmt worden ist, wird X aus der 

 Braggschen Formel nX = 2d.sm'f erhalten. 



2. Beschreibung der Apparatur, 

 a. Röntgenspektrometer. 



Die benutzte Spektrometeranordnung ist in der Fig. 2 zu sehen. Die zwei 

 Blenden, das Uhrwerk (demontiertes Heliostat) mit dem Kristall und der Platten- 

 halter sind auf einer mit drei Stellschrauben versehenen Marmorplatte montiert. 



Fig. 2. 



Die Bleiblenden sind 4 mm dick und etwa 10 cm von einander entfernt. Jede 

 Spaltöffnung kann mit Hilfe einer Schraube, die zwei bewegliche Bleistücke nach 

 der Seite verschiebt, beliebig variiert werden. Die Schraube der vorderen Blende 

 ist mit einer gradierten Kreisscheibe versehen, welche es ermöglicht, die Spaltbreite 

 auf Hundertstel Millimeter einzustellen. Da einerseits für ein gutes Auflösungsver- 

 mögen eine möglichst smale Spaltöffnung wünschenswert ist, anderseits die Intensität 



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