Часть вторая. ТСристаллооптическія изслѣдованія. 



I Основанія новаго метода кристаллооптическихъ 

 изслѣдованій. 



§ 1. Движенія препарата подъ микрос- 



копомъ . . 109 



§ 2. Значеніе вращеній препарата около 



горизонтальныхъ осей . . . .110 



§ 3. Особыя сѣченія оптическаго эллип- 

 соида и ихъ опредѣленіе . . .112 



§ 4. Опредѣленіекристаллографическихъ 

 системъ въ зернах ъ неправильная 

 очертанія 113 



II. Описаніе универсальна™ столика. 



§ 5. Конструкція столика 1-го типа . 115 

 §6. „ „ П-го типа . 117 



§ 7. Особыя преимущества обоихътиповъ 118 

 § 8. Препараты новаго типа . . . .119 



§ 9. Вывѣрка приборовъ 120 



§ 10. Особыя примѣненія универсальнаго 



столика 121 



III. Изслѣдованіе двойниковыхъ кристалловъ. 



§ 1 ] . Оптически-двойниковая ось и плос- 

 кость симметріи 124 



§ 12. Главное и другія замѣчательныя 

 направленія двойниковаго кри- 

 сталла . . .126 



§ 13. Перечисленіе наблюденій, произве- 



денныхъ въ воздухѣ 127 



IV. Оптическія опредѣленія плагіоклазовъ. 



14. Упрощенный способъ опредѣленія 

 оптическихъ константъ . . . .129 



15. Оитическіе константы ряда анор- 

 титъ-лабрадоръ 132 



16. Оптическіе константы рядаальбитъ- 



андезитъ 134 



V. Приложеніе метода изслѣдованія въ парал- 

 лельномъ свѣтѣ къ опредѣленію полевыхъ 

 шпатовъ въ микроскопическихъ препаратахъ. 



§17. Сѣченія, нернендикулярныя къ 



оптической А\ 137 



§ 18. Сѣченія, перпендикулярныя къ 



оптической А-2 139 



§ 19. Сѣченія, перпендикулярныя къ 

 кристаллографически- двойниковой 

 оси 



§ 20. Сѣченія, перпендикулярныя къ 

 главному направленію .... 



§ 21. Сѣченія симметричнаго пояса 



§ 22. Сѣченія перпендикулярныя къ оси 



140 



141 



142 



144 



§ 



§ 24. Сѣченія пояса [100] (удлиненнаго) 146 



23.Сѣченія, одновременнаго затемнѣнія 

 обоихъ индивидовъ двойника 



145 



КЕ81ШЁ Рагііе I. Ёіисіез °опіотёіщиез 

 Рагііе П. ., сгізШІоорЬіііиез 



149 

 180 



