SURFACE \p DK VAN DER WAALS. 
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Il s,ut de là que, pour . = 0. (^^^f) = (^"), ou (^^^ = 
= ^— — ^ , d'où l'on déduit aisément que Ton a aussi Ç^^'j "^ — 
~C^^''0' ^^'^'''^ '■i'^^ à&ws le diagramme 7' les courbes des points 
de plissement et des points de contact critique ') sont tangentes Tune à 
l'autre à leurs extrémités. 
11 vient en outre, pour un mélange de composition x: 
dp 
J .)■)• 1 xpl — 
.2 
(%) 
une formule d'oii p^r — Pxpi résulte aisément. 
Introduisant comme aux §§ 2 et 3 la loi des états correspondants, 
on trouve : 
'-?li[!^-<?.)î--.<â)] 
T.,,— T,. 
xpl ■ 
2 
5. Comparaison avec les observations ^). Pour le calcul dos grandeurs: 
') Les grandeurs relatives au point de contact critique sont caractérisée- par 
l'indice r. 
Dans un article qui fut publié dans Vcrsl. Kon. Akad. u. IVet. Amsterdam, 
après mes recherches, mais qui a déjà été traduit dans ces Archives, (2i, 11, 
115, 1906, il. v^N DEii VV.VALS compare les résultats de mes recherches avec 
des relations qu'il déduisit pour la courbi de pliisemeut au voisinage d'une 
des composantes, en appliquant son équation d'état. Pour ubtenir un accord 
ARCUIVES NÉERLANDAISKS, SKRIE II, TOME ill. 7 
