OÖ8 F. E. Wright, Neuere Verbesserungen am petrogr. Mikroskop. 
8. Eine genügende VoiTichtang ziini Heben und Senken des 
Kondensors. Der untere Nicol soll ausschaltbar und nicht 
direkt mit dem Kondensor verbunden sein. 
9. Genau gearbeiteter Kreuzschlittentisch, auf welchem seit- 
liche Bewegungen von U,01 mm direkt meßbar sind. 
10. Der geteilte Kreis des Objekttisches muß genau eingeteilt 
und mit Nonius versehen sein, so daß mindestens bis zu 5 ' 
abgelesen werden können. 
.\ußer diesen Bedingungen sind noch manche andere gering- 
fügige Einzelheiten von großer Bedeutung für zufriedenstellende 
Messungen. Das Okular, der obere Nicolträger, die Lagerung der 
BEKTRAND-Linse , kurz , alle beweglichen Teile müssen genau 
passen , so daß sie sich bei allen Einstellungen stets an der 
gleichen Stelle wieder befinden. Optisch sollte die numerische 
Apertur des Kondensors gleich derjenigen des Objektives oder 
größer sein; der untere (Polarisator)-Nicol sollte genügend weit 
sein, damit seine Öffnung das Gesichtsfeld nicht einschränkt; aus 
demselben Grunde sollte das Irisdiaphragma der Polarisatorvor- 
richtung in der hinteren Bildebene des Kondensors gestellt werden. 
Die .Justierung des petrographis ch en Mikroskops. 
Das richtig justierte petrographische Mikroskop hat folgende 
Bedingungen zu erfüllen: 
1. Das optische System muß zentriert sein und seine Achse 
(Sehlinie) muß mit dem Zentrum des drehbaren Objekttisches 
zusammenfallen. 
2. Die Nicols müssen exakt gekreuzt sein. 
3. Die Kreuzfäden des Okulars müssen den Hauptschwingungs- 
richtungen des Nicols parallel laufen. 
Die erste Bestimmung bedingt: 
a) Zentrierung des Objektivs nach den gebräuchlichen Me- 
thoden ; 
b) Zentrierung des Kondensors durch Beobachtung des von 
ihm entworfenen Bildes im Augenpunkt des Okulars. 
Bei dieser Justierung ist vorausgesetzt, daß der Tubus und 
die den Polarisator und den Kondensor tragende Vorrichtung sich 
in einer Linie befinden. Dies kann geprüft werden durch Ein- 
stellung des Objektivs auf die obere Oberfläche des Kondensors, 
wobei eine Lagenveränderung der anvisierteu Oberfläche bei den 
verschiedenen Stellungen in wahrnehmbarer AVeise nicht eiutreten 
darf. Eine geringfügige A^erschiebung ist kaum von Bedeutung 
für das Meßergebnis und kann daher ohne weitere Beachtung 
bleiben ; seine Korrektur ist keine leichte Aufgabe und ist 
glücklicherweise auch nur selten nötig. 
